[发明专利]一种轮廓度检具

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量工具，特别是一种轮廓度检具。

背景技术

目前，测量轮廓度一般都采用三座标、轮廓仪等，但无论是三座标还是轮廓仪，测量轮廓度检测时间长，检测费用贵，且三座标、轮廓仪等精密仪器对环境要求很高，其安装位置固定，距离生产现场有一定距离，不便于即时检测，不适合批量生产应用。

发明内容

本发明是为了操作简单、读数准确、效率高、使用范围广，特提出一种轮廓度检具。

为此，本发明的技术方案如下：一种轮廓度检具，包括底板，底板上垂直设有立板，其特征在于：在立板上通过定位轴设有标准块，标准块外通过定位轴的锁紧螺母固定待测样品；在底板上对应立板设有线性滑轨，线性滑轨上固定有表架，表架活动连接有读数表。

对上述方案的改进在于：标准块上设有多个限位孔和立板通过限位销限位。

对上述方案的改进在于：标准块和待测样品还通过定位销定位。

有益效果：

本发明利用标准块的定位和待测样品的并列摆设，再利用线性滑轨的移动就可以对待测样品进行检测，结构简单经济适用。

利用线性滑轨将检具本体和表架组合起来，实现读数表移动和待测样品固定的检测。

限位销的设置使标准块能够在立板上限位，并调整标准块的位置，保证测量的准确进行。

定位销的设置是为了保证标准块和待测样品的一致性，同样也保证其测量的精度。

附图说明

图1：本发明结构主视图。

图2：本发明结构左视图。

图3：示例标准块4的主视图。

图4：示例待测样品11的主视图。

图中1是读数表， 2是表架，3是线性滑轨，4是示例标准块，5是底板，6是立板，7是限位销，8是定位轴，9是定位销，10是锁紧螺母，11是示例待测样品，12是调节孔。

具体实施方式

本发明如图1、2、3、4所示。

本发明采用标准块采用示例标准块4，待测样品采用示例待测样品11为例，示例标准块4包含为测量任一产品而特定制造的带有定位、锁紧功能的样块，示例待测样品11对应示例标准块4。

一种轮廓度检具，包括底板5，底板5上垂直设有立板6，立板6上通过定位轴8设有示例标准块4，示例标准块4外通过定位轴8的锁紧螺母10固定待测样品11；在底板5上对应立板6设有线性滑轨3，线性滑轨3上表架2，表架2活动连接有读数表1。

示例标准块4上设有多个限位孔12和立板6通过限位销7限位。

示例标准块4和示例待测样品11还通过定位销9定位。

其中所述读数表1包括千分表、百分表、扇形表等常规表；表架2包含各种连接形式的表架；线性滑轨3包含各种能直线或有一定夹角折线或曲线运动的滑轨；示例待测样品11紧贴示例标准块4的定位面与检具本体的定位轴8、定位销7、锁紧螺母10连接；检具本体包含为实现将表架2、线性滑轨3、示例标准块4、示例待测样品11连接起来的底板5、立板6、限位销7、定位轴8、定位销9、锁紧螺母10构成；检具本体有一底板5，立板6和线性滑轨3固定在其上，在线性滑轨3上固定有表架2，在立板6上安装有示例标准块4、限位销7，立板6和示例标准块4通过定位轴8连接，在立板6上根据特定产品需要（实现标准块每个位置都能被容易测量）打一系列调节孔12，限位销7穿过立板6上的调节孔12，再穿过示例标准块4上的限位孔，用来调整示例标准块4的位置。

    本发明由于采用以上方案，为生产现场提供了一种快速、方便、准确的轮廓度检测方式，且该方法使用范围广，使用成本低。

    使用时，第一步：固定，将示例标准块4以定位轴8为轴旋转至大致水平位置（便于测量的位置，如图1所示），用限位销7穿过立板6上的调节孔再穿过示例标准块4上的限位孔，固定好示例标准块4的位置；将表架2吸附到线性滑轨3上，固定好表及表架各部分连接件。

第二步：校准，将表针轻压至示例标准块4某一区域a，沿图1所示前后方向移动表架，观察表指针变化，若指针变化量（测量误差）满足测量系统要求，则校准表盘使指针指零，结束；一般要求指针变化量≤0.005，若指针变化量不满足测量系统要求，则通过调节线性滑轨3的紧固螺钉，为线性滑轨3进行微调，重复校准的步骤，直到指针变化量（测量误差）满足测量系统要求方可结束。

第三步：示例待测样品11的安装，将示例待测样品11紧贴示例标准块4的定位面与检具本体的定位轴8、定位销9、锁紧螺母10连接（图1所示），确保可靠定位及锁紧。

第四步：检测，将表针轻压至标准块某一区域a，沿图1所示前后方向移动表架，观察表指针变化，记录指针从接触样品到测量结束过程中指针的变化量，该变化量即为样品在该处的轮廓度；选取另一区域，重复检测过程，继续测量并记录数据，通过改变限位销穿过立板上的调节孔的位置，用来调整标准块的不同位置，从而达到检测整个区域轮廓度的位置。取上述检测的最大值，即为待测样品轮廓度的值。