[发明专利]对图像进行直方图均衡处理的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201310480297.1 申请日: 2013-10-15
公开(公告)号: CN104574326A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 梅平 申请(专利权)人: 无锡华润矽科微电子有限公司
主分类号: G06T5/40 分类号: G06T5/40
代理公司: 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人: 庞聪雅
地址: 214135 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 图像 进行 直方图 均衡 处理 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种对图像进行直方图均衡处理的方法和装置。

背景技术

直方图均衡是一种常用的图像增强方法,而直方图统计是直方图均衡的一个重要步骤,直方图统计的过程主要包括:按照输入图像灰度,将整幅图像上具有同一灰度值的像素点数逐一累加,累加后得到的直方图统计结果为输入图像的灰度分布状况,客观反应了输入图像的对比度状况。直方图均衡依据上述直方图统计结果,计算出每一个有效灰度值的像素点数占总像素点数的比重,再对输入图像进行灰度区间映射,实现图像整体对比度的提高。

目前,现有的直方图均衡方案针对的是整幅图像,提高图像整体的对比度,然而对于比如红外或微光夜视仪等实时图像获取处理系统,人眼视觉最关心的细节区域一般在整幅图像的中心位置,上述现有的直方图均衡方案无法实现对图像的不同区域进行差异化的对比度增强处理。

发明内容

本发明的实施例提供了一种对图像进行直方图均衡处理的方法和装置,以实现有效地增强图像中的人们的视觉关心区域的对比度。

本发明提供了如下方案:

一种对图像进行直方图均衡处理的方法,包括:

计算图像中的各像素点与中心像素点之间的距离;

根据所述图像中的各像素点与中心像素点之间的距离,计算所述图像中的各像素点的直方图统计权重;

基于所述图像中的各像素点的直方图统计权重,对所述图像分别进行各个灰度级的加权灰度直方图统计;

根据所述图像的各个灰度级的加权灰度直方图统计结果,对所述图像进行直方图均衡处理。

一种对图像进行直方图均衡处理的装置,包括:

距离计算模块,用于计算图像中的各像素点与中心像素点之间的距离;

权重计算模块,用于根据所述距离计算模块得到的图像中的各像素点与中心像素点之间的距离,计算所述图像中的各像素点的直方图统计权重;

加权灰度直方图统计处理模块,用于基于所述权重计算模块得到的图像中的各像素点的直方图统计权重,对所述图像分别进行各个灰度级的加权灰度直方图统计;

直方图均衡处理模块,用于根据所述加权灰度直方图统计处理模块得到的图像的各个灰度级的加权灰度直方图统计结果,对所述图像进行直方图均衡处理。

本发明实施例通过利用图像中的像素点的空间分布位置,对各像素点采用不同的统计权重,可以使处理后的图像突出人们的视觉关心区域(即图像的中心区域),实现对图像的不同区域进行差异化的对比度增强处理,有效地增强了图像中的人们的视觉关心区域的对比度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种对图像进行直方图均衡处理的方法的处理流程图;

图2为本发明实施例一提供的一种图像中的中心像素点和其它像素点的直方图统计权重空间分布状态示意图;

图3为本发明实施例一提供的一种对图像进行直方图均衡处理的装置300的具体实现结构图,图中,距离计算模块310,权重计算模块320,加权灰度直方图统计处理模块330和直方图均衡处理模块340。

具体实施方式

为便于对本发明实施例的理解,下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明,且各个实施例并不构成对本发明实施例的限定。

实施例一

本发明实施例提出了一种直方图加权均衡的方法,使增强后的图像符合人眼观察的这一视觉习惯。

该实施例提供了一种对图像进行直方图均衡处理的方法的处理流程如图1所示,包括如下的处理步骤:

步骤S110、计算图像中的各像素点与中心像素点之间的距离。

本发明实施例首先需要计算图像中的各像素点与中心像素点之间的距离。以长度为L、宽度为H的图像为例,则上述图像的中心像素点O的坐标为(L/2,H/2)。设图像中的某个像素点m的坐标为(x,y),则上述某个像素点M和中心像素点O之间的距离为:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡华润矽科微电子有限公司;,未经无锡华润矽科微电子有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310480297.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top