[发明专利]主板测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201310478223.4 | 申请日： | 2013-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN104569781A | 公开（公告）日： | 2015-04-29 |
| 发明（设计）人： | 张万宏;朱鸿儒 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密电子(天津)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 300457 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 主板 测试 装置 方法 | ||
1.一种主板测试装置，其用于测试一集成至少一个电子元件的主板，该主板上连接一智能平台管理总线，该智能平台管理总线包括连接器，其特征在于：所述主板测试装置包括控制器及与控制器电性连接的显示单元，所述控制器通过所述连接器与主板建立通信并向所述至少一个电子元件发送测试数据包，以获取相关的测试数据，所述测试数据通过显示单元显示。
2.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于：所述主板测试装置还包括指示单元，所述指示单元包括第一发光二极管，所述第一发光二极管与控制器电性连接，当所述控制器上电时，所述控制器控制第一发光二极管点亮。
3.如权利要求2所述的主板测试装置，其特征在于：所述指示单元还包括第二发光二极管，所述第二发光二极管与控制器电性连接，当所述控制器与主板建立通信时，所述控制器控制第二发光二极管点亮。
4.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于：所述控制器通过所述连接器向电子元件发送地址扫描信号，并接收电子元件反馈的应答信号，进而获取电子元件的地址并与对应地址的电子元件建立通信。
5.如权利要求4所述的主板测试装置，其特征在于：所述控制器将电子元件的地址转换为控制指令，以控制所述显示单元显示该电子元件的地址。
6.一种主板测试方法，其通过一主板测试装置对集成至少一个电子元件的主板进行测试，该主板上连接一智能平台管理总线，该智能平台管理总线包括连接器，该主板测试装置包括控制器与显示单元，其特征在于：所述主板测试方法包括如下步骤：
控制器与连接器建立连接以使控制器上电；
控制器通过连接器与主板建立通信；
控制器向所述电子元件发送测试数据包，以获取相关的测试数据；
显示单元显示测试数据。
7.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述控制器与连接器建立连接以使控制器上电的步骤还包括控制器控制一第一发光二极管点亮的步骤。
8.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述控制器通过连接器与主板建立通信的步骤后还包括控制器控制一第二发光二极管点亮的步骤。
9.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述主板测试方法还包括控制器通过所述连接器向电子元件发送地址扫描信号，并接收电子元件反馈的应答信号，进而获取电子元件的地址的步骤。
10.如权利要求9所述的主板测试方法，其特征在于：所述主板测试方法还包括控制器将电子元件的地址转换为控制指令，以控制所述显示单元显示该电子元件的地址的步骤。
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