[发明专利]用于收集和分析脑电图数据的系统和方法

说明书

技术领域

本公开总体上涉及神经和生理监测，以及更特别的，涉及用于收集和分析脑电图数据的系统和方法。

背景技术

脑电描记法(EEG)包括测量和记录与大脑的不同部位相关联的上千个同时神经过程所产生的电活动。通常使用置于使用者头皮上的多个电极测量由大脑神经元内的该电活动所导致的电压波动来测量EEG数据。颅下EEG能够以高精度测量电活动。尽管人头部的骨和真皮层趋向于减弱多种频率的传输，但是表面EEG还提供了有用的电生理信息。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了一种方法，其包括：评估第一神经信号的第一属性；基于第一属性确定第一神经信号是否依从质量阈值；评估第二神经信号的第二属性；基于第二属性确定第二神经信号是否依从质量阈值；在第一神经信号不依从质量阈值的情况下调节第一神经信号以获得第三神经信号；在第二神经信号不依从质量阈值的情况下调节第二神经信号以获得第四神经信号；评估第三神经信号的第三属性；基于第三属性确定第三神经信号是否依从质量阈值；评估第四神经信号的第四属性；基于第四属性确定第四神经信号是否依从质量阈值；基于与质量阈值的相应依从性选择第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第一个，以执行下述至少一项：用于附加分析、忽略第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第二个、或者与第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第二个合并。

根据本发明的第二方面，提供了一种系统，其包括：头戴式装置，用于从对象大脑收集第一神经信号和第二神经信号；以及处理器，用于：评估第一神经信号的第一属性；基于第一属性确定第一神经信号是否依从质量阈值；评估第二神经信号的第二属性；基于第二属性确定第二神经信号是否依从质量阈值；在第一神经信号不依从质量阈值的情况下调节第一神经信号以获得第三神经信号；在第二神经信号不依从质量阈值的情况下调节第二神经信号以获得第四神经信号；评估第三神经信号的第三属性；基于第三属性确定第三神经信号是否依从质量阈值；评估第四神经信号的第四属性；基于第四属性确定第四神经信号是否依从质量阈值；基于与质量阈值的相应依从性选择第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第一个，以执行下述至少一项：用于附加分析、忽略第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第二个、或者与第一神经信号、第二神经信号、第三神经信号或第四神经信号中的第二个合并。

附图说明

图1示意了根据本公开教导的具有多个可调节带的示例头戴式装置(headset)的透视图。

图2是图1的头戴式装置的右侧视图。

图3是图1的头戴式装置的左侧视图。

图4A是图1的头戴式装置在示例定向上的透视图。

图4B是图1的头戴式装置在另一示例定向上的透视图。

图5是图1的头戴式装置的示例可调节带或脊的透视图。

图6是图5的示例脊的末端的放大视图。

图7是图5的示例脊的横截面图。

图8A是示例EEG系统的电路图。

图8B是具有湿电极的示例EEG系统的电路图。

图8C是根据本公开教导的具有干电极的示例EEG系统的电路图。

图9是示意了示例电极和接地放置位置的头顶的示意图。

图10是示于图1的头戴式装置上的示例可调节机构的放大视图。

图11A是图1-7的示例电极的透视图。

图11B和11C是两个可替代示例电极设计的前视图。

图11D是示例中心电极阵列板的透视图。

图12A是示例开关电路的框图。

图12B是对数据的多个通道求平均的图形表示。

图13A是与使用者头皮接触的示例电极的横截面图。

图13B是与使用者头皮接触的可替代示例电极的横截面图。

图14是示例电极的电路图。

图15是根据本公开教导构造的可替代带或脊以及可替代电极的透视图。

图16是图15的示例电极的分解图。

图17是根据本公开教导构造的另一示例按扣(snap)电极的分解图。

图18是根据本公开教导构造的另一示例电极的透视图。

图19A是根据本公开教导构造的另一示例电极的透视图。

图19B是图19A的示例电极的横截面图。