[发明专利]电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备有效
申请号: | 201310445945.X | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN103713484B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 山本友纪;大垣晴信;丸山晃洋 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03G5/06 | 分类号: | G03G5/06;G03G5/05;G03G21/18;G03G15/00 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 照相 感光 构件 处理 设备 | ||
技术领域
本发明涉及电子照相感光构件以及各自具有电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
背景技术
包含有机光导电性材料的电子照相感光构件主要用作安装在处理盒或电子照相设备中的电子照相感光构件。通常,电子照相感光构件包括支承体和在支承体上的包含有机光导电性材料的感光层。感光层典型地为由从支承体侧依次层压的电荷产生层和电荷输送层形成的层压型(顺层型)。
在电子照相法中,电子照相感光构件的表面接触各种材料(以下称为“接触构件”)例如显影剂、充电构件、清洁刮板、纸和转印构件。因此,电子照相感光构件所需的特性的实例包括由于与接触构件的接触应力引起的图像劣化的降低性(reducibility)。与近来电子照相感光构件耐久性的改善相关联,需要进一步改善由于接触应力引起的图像劣化减少的持续效果和重复使用时的电位稳定性(电位变动的减少)。
关于电子照相感光构件的持续的接触应力松弛效果和重复使用时的电位稳定性,使用具有组装成分子链的硅氧烷结构的硅氧烷树脂在表面层中形成基体-区域结构的方法公开在国际公布WO2010/008095中。根据该方法,具有特定硅氧烷结构的聚酯树脂的使用显示持续的接触应力松弛效果和电子照相感光构件重复使用时的电位稳定性二者。
国际公布WO2010/008095中公开的电子照相感光构件实现了持续的接触应力松弛效果和重复使用时的电位稳定性二者。
然而,本发明人发现需要进一步改善由于用光照射的部分和不用光照射的部分之间的电位差导致的光存储(photo memory)而引起的图像劣化。
发明内容
本发明旨在提供一种电子照相感光构件,其高水平地同时实现持续的接触应力松弛、电子照相感光构件重复使用时的电位稳定性以及光存储的减少;以及各自具有电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
根据本发明的一方面,提供一种电子照相感光构件,其包括:支承体;形成于支承体上的电荷产生层;和形成于电荷产生层上的电荷输送层;其中,电荷输送层是电子照相感光构件的表面层,电荷输送层具有以下的基体-区域结构:包括具有下式(A)所示的结构单元和下式(B)所示的结构单元的聚酯树脂A的区域,和包括电荷输送物质与选自由具有下式(C)所示的结构单元的聚酯树脂C和具有下式(D)所示的结构单元的聚碳酸酯树脂D组成的组的至少一种树脂的基体,式(A)所示的结构单元的含量基于所述聚酯树脂A的总质量为6质量%以上且40质量%以下,和式(B)所示的结构单元的含量基于所述聚酯树脂A的总质量为60质量%以上且94质量%以下。
式(A)中,X1表示间亚苯基、对亚苯基或具有经由氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团,R11至R14各自独立地表示甲基、乙基或苯基,n表示括弧内的结构的重复数,和聚酯树脂A中的n的平均值为20以上且120以下。
式(B)中,X2表示间亚苯基、对亚苯基或具有经由氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团。
式(C)中,R31至R38各自独立地表示氢原子或甲基,X3表示间亚苯基、对亚苯基或具有经由氧原子键合的两个对亚苯基的二价基团,和Y3表示单键、亚甲基、乙叉基或丙叉基。
式(D)中,R41至R48各自独立地表示氢原子或甲基,和Y4表示亚甲基、乙叉基、丙叉基、苯基乙叉基、环己叉基或氧原子。
根据本发明的另一方面,提供一种处理盒,其一体化支承电子照相感光构件和选自由充电单元、显影单元、转印单元和清洁单元组成的组的至少一种单元,并且可拆卸地安装至电子照相设备主体。
根据本发明的又一方面,提供一种电子照相设备,其具有电子照相感光构件、充电单元、显影单元和转印单元。
根据本发明,提供高水平地同时实现持续的接触应力松弛、电子照相感光构件重复使用时的电位稳定性和重复使用时光存储的减少的电子照相感光构件,以及各自包括所述电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
参考附图,从以下示例性实施方案的描述中,本发明的进一步特征将变得显而易见。
附图说明
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