[发明专利]一种非晶基B-C-Mg三元薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310433449.2 申请日: 2013-09-18
公开(公告)号: CN103469157A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 吴爱民;周徐洋;董闯 申请(专利权)人: 大连理工常州研究院有限公司
主分类号: C23C14/14 分类号: C23C14/14;C23C14/16;C23C14/34
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 侯明远
地址: 213164 江苏省常州市武进区常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 非晶基 mg 三元 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种非晶基B-C-Mg三元薄膜,其特征在于:它包含B、C、Mg,其薄膜成分的原子百分比为(at.%),B:75-90;C:5-12.5;Mg:5-12.5。

2.一种非晶基B-C-Mg三元薄膜的制备方法,其特征在于下列步骤:

①衬底清洗:选择Si基片为实施例衬底材料,将衬底先经过丙酮、酒精和去离子水超声波清洗,然后放入5%的HF中浸泡1-2分钟,采用吹气球吹干后放入真空室;

②磁控溅射设备抽取真空:选择纯度为99.9%的石墨、纯度为99.9%的镁和纯度为99.9%的非晶硼做为溅射靶材,靶材和基片都放入真空室后,机械泵粗抽真空至5Pa以下,然后采用分子泵进行精抽真空,真空度抽至8.0×10-4Pa;

③真空度达到所需要的高真空后,充入氩气与氢气混合气体至适当气压,让靶材起辉,然后调节氩气流量到4.0sccm,氢气流量到4.0sccm,工作气压调至0.5Pa,硼靶为射频溅射,功率为300-600W,碳靶也为射频溅射,功率为100-120W,镁靶为直流溅射,功率为10-15W,靶基距为8-12cm,预溅射时间为20分钟;

④预溅射之后,停止通入氢气,将氩气流量调节到8.0sccm,并移开溅射挡板,开始溅射沉积薄膜,溅射时间为120min,溅射完毕后,设备冷却至30-60℃,取出三元B薄膜样品。

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