[发明专利]一种信息处理方法及电子设备有效
申请号: | 201310409974.0 | 申请日: | 2013-09-10 |
公开(公告)号: | CN104427050B | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 岳喜成 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | H04M1/03 | 分类号: | H04M1/03;H04M1/725 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司11225 | 代理人: | 黄威,喻嵘 |
地址: | 100085 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信息处理 方法 电子设备 | ||
技术领域
本发明涉及电子技术领域,特别涉及一种信息处理的方法及电子设备。
背景技术
从19世纪末,贝尔等科学家为了改进当时的最新发明电话,发明了液体麦克风和碳粒麦克风开始,人们就致力于获得高清晰度、低噪音的声音信号而努力。
现如今,双MIC(microphone)的应用则能够很好的降低声音信息号中的环境噪音。双MIC的实现原理主要是在电子设备上配置两个传声器:主MIC和副MIC,并使主MIC采集较多的目标声音,副MIC则采集较多的环境噪音,基于副MIC采集到的声音,消除主MIC采集到的环境噪音得到清晰的目标声音。
然而,本申请发明人在实现本申请实施例中技术方案的过程中,发现现有技术中,主副MIC设置的位置固定,如手机中的主MIC通常设置在手机正面的下边沿,而副MIC则设置在手机背面的上边沿,当用户面对手机正面进行语音录入或语音通话时,主MIC采集到较多的目标声音,副MIC采集到较多的环境噪音,此时能够得到清晰的目标声音,但是当用户面对手机背面进行语音录入或语音通话时,主MIC实际采集到较多的环境噪音,副MIC采集到较多的目标声音,由于主副MIC的功能不能相互转换,此时不仅无法获得清晰的目标声音,甚至出现信噪比增加的声音。可见现有技术中的电子设备存在主副MIC功能不能互换的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种信息处理方法及电子设备,用于解决现有技术中的电子设备主副MIC功能不能互换的技术问题,提高电子设备降噪处理的准确性。
本申请实施例提供一种信息处理方法,应用于电子设备,所述电子设备包含第一传声器和第二传声器,所述方法包括:
在开启所述第一传声器和所述第二传声器采集语音信息的第一时刻,将所述第一传声器采集到的第一信息作为目标语音信息,将所述第二传声器采集到的第二信息作为环境噪音信息,并检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值;
在所述第一时刻之后的第二时刻,检测获得所述电子设备与所述预设平面间的第二角度值;
判断所述第一角度值与所述第二角度值的第一差值是否大于设定阈值,获得第一判断结果;
在所述第一判断结果表明所述第一差值大于所述设定阈值时,将所述第一传声器采集到的第三信息作为所述环境噪音信息,将所述第二传声器采集到的第四信息作为所述目标语音信息。
可选的,在所述检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值之前,所述方法还包括:
判断所述电子设备是否处于免提通话模式,获得第二判断结果;
当所述第二判断结果表明所述电子设备处于所述免提模式时,执行步骤:检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值。
可选的,在所述检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值之前,所述方法还包括:
判断所述电子设备是否处于录音模式,获得第三判断结果;
当所述第三判断结果表明所述电子设备处于所述录音模式时,执行步骤:检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值。
可选的,在所述将所述第一传声器采集到的第三信息作为所述环境噪音信息,将所述第二传声器采集到的第四信息作为所述目标语音信息之后,所述方法还包括:
基于所述目标语音信息和所述环境噪音信息,对所述目标语音信息进行降噪处理获得降噪目标语音信息。
可选的,在所述将所述第一传声器采集到的第三信息作为所述环境噪音信息,将所述第二传声器采集到的第四信息作为所述目标语音信息之后,所述方法还包括:
在所述第二时刻之后的第三时刻,检测获得所述电子设备与所述预设平面间的第三角度值;
判断所述第二角度值与所述第三角度值的第二差值是否大于所述设定阈值,获得第四判断结果;
在所述第四判断结果表明所述第二差值大于所述设定阈值时,将所述第一传声器采集到的第五信息作为所述目标语音信息,将所述第二传声器采集到的第六信息作为所述环境噪音信息。
本申请实施例还提供一种电子设备,包含第一传声器和第二传声器,所述电子设备还包括:
第一检测单元,用于在开启所述第一传声器和所述第二传声器采集语音信息的第一时刻,将所述第一传声器采集到的第一信息作为目标语音信息,将所述第二传声器采集到的第二信息作为环境噪音信息,并检测获得所述电子设备与一预设平面间的第一角度值;
第二检测单元,用于在所述第一时刻之后的第二时刻,检测获得所述电子设备与所述预设平面间的第二角度值;
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