[发明专利]一种金属化膜电容器层间压强测量方法和装置有效
申请号: | 201310399244.7 | 申请日: | 2013-09-05 |
公开(公告)号: | CN103487177A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 李化;林福昌;李智威;刘德;王博闻;李浩原 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01L1/22 | 分类号: | G01L1/22 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 朱仁玲 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属化 电容器 压强 测量方法 装置 | ||
1.一种金属化膜电容器层间测量装置,包括金属化膜电容器、对比芯轴、四个应变片和静态程控应变仪,其特征在于,
金属化膜电容器是由两张金属化膜围绕芯轴卷绕而成,且卷绕层数为500至2000层;
其中一个应变片作为测试应变片粘贴在金属化膜电容器的芯轴上,另一个应变片作为补偿应变片贴在另一个芯轴上,其余的两个应变片设置在静态程控应变仪中;
四个应变片构成一个1/4电桥,该电桥的输出端与静态程控应变仪电气连接。
2.一种金属化膜电容器层间测量方法,是应用在根据权利要求1所述的测量装置中,且包括以下步骤:
(1)将一个测试应变片粘贴在电容器的芯轴上,将两张金属化膜围绕芯轴卷绕形成电容器,将补偿应变片粘贴贴在另外一个芯轴表面上,用于测试应变片的温度补偿和形变补偿补偿,并将另外两个应变片设置在静态程控应变仪中;
(2)将粘贴在电容器芯轴上的测试应变片与贴在另一个芯轴的补偿应变片连接至静态程控应变仪上,从而与另外两个应变片一起构成1/4电桥;
(3)将静态程控应变仪的输出调零,并将其作为微应变的初始值;
(4)将一定层数的薄膜层从金属化膜电容器剥离,并记录静态程控应变仪5的输出值作为当前的微应变ε1;
(5)重复以上步骤(4),直到所有薄膜层均从金属化膜电容器剥离完毕为止,并记录下每一次剥离过程中静态程控应变仪5的输出值ε2,ε3,…,εi,其中i为剥离的总次数;
(6)根据获得的不同微应变ε1,ε2,…εi计算金属化膜层对芯轴的压强Pi=E·εi,其中E为芯轴的弹性模量。
3.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于,卷绕的层数由金属化膜电容器的电容量决定,且为500至2000层。
4.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于,剥离的层数是根据测量的需求来确定,且为10至100层。
5.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于,每次剥离过程中剥离的层数可以相同,或每次均不同。
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