[发明专利]产品轮廓变形量分析系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310387265.7 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN104422422A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 张旨光;吴新元 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 产品 轮廓 变形 分析 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种产品检测系统及方法,特别是关于一种产品轮廓变形量分析系统及方法。

背景技术

近年来,随着计算机硬件性能的提高及价格的降低,其在扫描系统中被大量的引入。做法一般是使用扫描装置扫描产品以获得组成该产品轮廓线的点云(即由多个三维离散点组成的点的集合),而后将点云数据输入计算机,执行相应软件可对点云数据进行各种处理。目前,市面上的产品检测系统还没有对产品组装后的变形进行分析的功能,不能够分析产品组装后的变形情况,从而不便于产品组装应力的分析。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种产品轮廓变形量分析系统,能够分析产品轮廓的变形情况。

此外,还有必要提供一种产品轮廓变形量分析方法,能够分析产品轮廓的变形情况。

一种产品轮廓变形量分析系统,运行于计算设备中,该系统包括:

汇入模块,用于汇入产品的标准图形的标准轮廓线以及通过扫描获得的产品的点云轮廓线;

对齐模块,用于将所述点云轮廓线与所述标准轮廓线对齐;

计算模块,用于计算对齐后的点云轮廓线中的每一点相对于标准轮廓线的偏差值;

查找模块,用于找出所有偏差值中的最大偏差值对应的点,并找出该最大偏差值对应的点附近预设范围内的点,形成一偏差队列;

第一图形生成模块,用于将所述偏差队列内所有点的偏差值生成一折线图;以及

显示模块,用于显示所述折线图。

一种产品轮廓变形量分析方法,运行于计算设备中,该方法包括:

汇入产品的标准图形的标准轮廓线以及通过扫描获得的产品的点云轮廓线;

将所述点云轮廓线与所述标准轮廓线对齐;

计算对齐后的点云轮廓线中的每一点相对于标准轮廓线的偏差值;

找出所有偏差值中的最大偏差值对应的点,并找出该最大偏差值对应的点附近预设范围内的点,形成一偏差队列;

将所述偏差队列内所有点的偏差值生成一折线图;以及

显示所述折线图。

所述的产品轮廓变形量分析系统及方法通过将点云轮廓线构成偏差队列,并根据偏差队列内的点的偏差值生成一折线图,可方便用户直观地看出产品轮廓变形量的走势,为评判产品的成型品质提供了有效依据。

附图说明

图1为本发明较佳实施方式的产品轮廓变形量分析系统的应用环境示意图。

图2为图1所示的产品轮廓变形量分析系统的功能模块图。

图3为本发明较佳实施方式的产品轮廓变形量分析方法的流程图。

图4为应用图3所示的产品轮廓变形量分析方法进行分析的产品的标准轮廓线及点云轮廓线的示意图。

图5为应用图3所示的产品轮廓变形量分析方法生成的折线图。

图6为应用图3所示的产品轮廓变形量分析方法生成的数值区间标示图。

图7为图3中步骤S2的具体作业流程图。

主要元件符号说明

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