[发明专利]被检体信息获取设备无效
申请号: | 201310382085.X | 申请日: | 2013-08-29 |
公开(公告)号: | CN103654725A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 福谷和彦 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 魏小薇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被检体 信息 获取 设备 | ||
1.一种被检体信息获取设备,包括:
光源,被配置为发射光;
保持构件,被配置为保持被检体;
探头,被配置为接收当经由所述保持构件在所述被检体上照射光时由所述被检体生成的声学波,并且输出接收信号;以及
信号处理器,被配置为通过使用所述接收信号获取来自所述被检体的信息,其中,
保持构件的与被检体形成接触的区域被配置为非均匀区域,该非均匀区域是其中在保持构件与被检体之间的切面的法线方向不恒定的区域。
2.根据权利要求1所述的被检体信息获取设备,其中
所述保持构件由压缩并保持所述被检体的两个保持部件构成,
由所述光源发射的光经由所述保持部件中的至少一个保持部件照射在所述被检体上,
所述非均匀区域被设置在所述保持部件中的一个保持部件上,以及
所述探头与在所述一个保持部件的相对侧的保持部件接触,并经由该相对侧的保持部件接收声学波。
3.根据权利要求2所述的被检体信息获取设备,其中
所述非均匀区域具有向被检体突出的凸形。
4.根据权利要求2所述的被检体信息获取设备,其中
所述非均匀区域具有相对于被检体凹陷的凹形。
5.根据权利要求2所述的被检体信息获取设备,其中
所述非均匀区域具有波浪形状。
6.根据权利要求2所述的被检体信息获取设备,其中
所述非均匀区域具有锯齿形状。
7.根据权利要求2到6中任一项所述的被检体信息获取设备,其中,
由所述光源发射的光还从与探头形成接触的保持部件这一侧经由该保持部件照射在被检体上,以及
把该保持部件的与探头形成接触的被检体接触区域配置为非均匀区域。
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