[发明专利]光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备。

背景技术

一些彩色图像显示设备包括具有彩色滤波器的彩色液晶面板、以及向该彩色液晶面板的背面照射白色光的光源设备(背光设备)。

传统上，作为光源设备的光源，主要使用诸如冷阴极荧光灯(CCFL)等的荧光灯。然而，近来，发光二极管(LED)由于在电力消耗、产品寿命、颜色再现性和环境影响方面优良而已开始用于光源设备的光源。

使用LED作为光源的光源设备(LED背光设备)通常具有多个LED。日本特开2001-142409公开了包括各自具有一个或多个LED的多个发光单元的LED背光设备。日本特开2001-142409还公开了针对各发光单元来控制亮度。通过使向彩色图像显示设备的画面中的显示暗图像的区域照射光的发光单元的发光亮度下降，电力消耗减少并且图像的对比度提高。将与图像的特性相对应的针对各发光单元的这种亮度控制称为“局部调光控制”。

光源设备的一个问题是从发光单元发出的光的发光亮度的变化。例如，发光亮度因依赖于温度变化的光源的发光特性的变化、或者因光源的老化而改变。在具有多个发光单元的发光设备的情况下，由于多个发光单元之间的温度值和老化程度的偏差，因而在这些发光单元中产生发光亮度的偏差(亮度不均匀)。

作为用于减少发光亮度的这些变化和亮度不均匀的技术，已知有使用光学传感器来调整发光单元的发光亮度的技术。具体地，配置用于检测从光源设备发出的光中的、被该光源设备的光学片材(光学构件)反射并且返回至发光单元侧的反射光的光学传感器，并且基于该光学传感器的检测值来调整发光单元的发光亮度。在具有多个发光单元的发光设备中，使各发光单元顺次变为ON(点亮)，针对各发光单元利用光学传感器来检测反射光，并且调整发光亮度。日本特开2011-27941公开了该技术。

发明内容

然而，在一个发光单元变为ON时的光学片材的发光侧表面上的亮度分布在该光学片材弯曲的情况下发生改变。在现有技术中，没有考虑到该变化，因而光学传感器的检测值由于光学片材的挠曲而大幅波动。结果，在使用现有技术的情况下，无法非常精确地调整发光单元的发光亮度。

本发明提供如下一种光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备，其中该光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备使得能够获取到不会因光学片材的挠曲而大幅波动的检测值作为来自光学片材的反射光的检测值，并且能够非常精确地调整发光单元的发光亮度。

本发明的第一方面提供一种光源设备，包括：

光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；

光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及

检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，

其中，所述检测单元配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。

本发明的第二方面提供一种显示设备，包括：

所述光源设备；以及

液晶面板，用于从所述液晶面板的背面侧接收来自所述光源设备的光。

本发明的第三方面提供一种光源设备，包括：

光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；

光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及

检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，

其中，所述检测单元被配置成与所述光学片材的表面上的、一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的该表面上的亮度的变化量的绝对值为预定值以下的位置相对。

本发明的第四方面提供一种光源设备的控制方法，所述光源设备具有：光源基板，其上配置有多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及多个检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，所述控制方法包括以下步骤：

点亮步骤，用于根据预定顺序使多个所述发光单元逐一点亮；以及

检测步骤，用于通过使用多个所述检测单元中的配置在所述点亮步骤中一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元，来检测所述光学片材反射后的反射光。

根据本实施例，可以获取到不会因光学片材的挠曲而大幅波动的检测值作为来自光学片材的反射光的检测值，并且可以非常精确地调整发光单元的发光亮度。

通过以下参考附图对典型实施例的说明，本发明的其它特征将变得明显。

附图说明