[发明专利]按键测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种按键测试装置及方法，特别有关于一种可测试按键的多项性能的按键测试装置及方法。

背景技术

一般而言，电子装置都具有可供使用者操作的按键，按键的好坏直接影响了使用者对电子装置的功能操控，因此，对按键进行测试为产品出厂前的必要流程。传统的按键测试程序，是由一测试者以手指去按该键盘上的每一按键。如果能够正确地分辨该测试者所按的每一按键，并据以执行相对应的运作，就表示该待测按键是正常的，否则，就表示该待测按键是不良品。然而待检测的按键或键盘数量庞大，如果测试工程师仅靠手动按键来执行所有测试，不仅测试速度慢，效率低，还有可能造成测试的遗漏。

更重要的是，按键的各项性能皆有预设的数值规范，例如按键的支撑力范围、按键对按压力道的灵敏度或是按键的回弹力范围，皆需要符合制造商所预设的数值规范，以提供使用者良好的使用经验。

然而人工测试，仅能依据测试工程师的「手感」经验，以判断按键的各项性能，无法量化复制，造成按键测试进度缓慢，不符经济效益。而且测试工程师的主观判定，并无法准确的检测出按键的性能是否精准的落在预设的数值规范，造成每一按键所展现的性能有所不同，进而使每一使用者的使用者经验，皆有所差异。

综上所述，在现有技术中，采用人工方式进行按键测试，无法精准检测按键的各项性能，且检测效率低落，此实为市场应用上刻不容缓且亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种按键测试装置，包含：升降机构、至少一管体及拉杆。升降机构具有至少一透孔；至少一管体对应至少一透孔而设置于升降机构上方，至少一管体内容设有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活动容设于管体内最底端，第一配重凸设有测试头，测试头向下穿出透孔外；第二配重活动容设于管体内，并叠置于第一配重上方；第三配重活动容设于管体内，并叠置于第二配重上方，第二配重与第三配重之间连设有挠性引线；拉杆连动第三配重作升降运动。

本发明另提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

A步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构及至少一管体，至少一管体内活动容设有第一配重及第二配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构的对应的透孔外，第二配重叠置于第一配重上方；

B步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重的测试头；

C步骤：降下升降机构自起始位置至测试位置，使测试头负载于待测按键上；及

D步骤：量测至少一待测按键的导通状态。

本发明再提出一种按键测试方法，包含下列步骤：

步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构、至少一管体及拉杆，至少一管体内活动容设有第一配重、第二配重及第三配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构的对应的透孔外，第二配重叠置于第一配重上方，第三配重并藉由挠性引线连结于第二配重上拉杆连结于第三配重上；

步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重的测试头；

步骤：将升降机构移动至测试位置，该测试头负载于待测按键上；

步骤：驱动拉杆上升，使第三配重不叠置于第二配重上；

步骤：量测至少一待测按键的导通状态；

步骤：驱动拉杆下降，使第三配重叠置于第二配重上；

步骤：量测至少一待测按键的导通状态。

本发明的其中一特点在于，通过第一配重上的测试头压抵待测按键，并藉由改变管体内配重的位置或是改变升降机构位置，使压抵于待测按键上的重量改变，或是待测按键运行的行程距离改变，进而检测待测按键的各项性能。

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求书及附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。

附图说明

图1为理想的按键行程距离－力量曲线规格。

图2A为本发明实施例结构的立体示意图。

图2B为本发明实施例结构的分解示意图。

图3为本发明另一实施例的测视剖面作动示意图。

图4为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（一）。

图5为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（二）。

图6为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（三）。

图7为本发明实施例结构的起始状态示意图。

图8为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（四）。