[发明专利]电路使用期计量装置与方法

说明书

技术领域

本发明涉及计量装置与方法，尤其是涉及电路使用期计量装置与方法。

背景技术

一般电子元件（例如一集成电路）的使用期与其操作条件有关。在正常的操作条件下，一集成电路具有一正常使用期；然而，若使用者通过改变该集成电路的操作条件以达到更高的运作表现，该集成电路的使用期就会相对应地衰减。通常而言，使用者可提高该集成电路的操作电压及/或工作频率来加强该集成电路的运作表现（例如速度），但操作条件设定的愈严苛及/或超载运作的时间愈久，该集成电路的使用期就会衰减得愈多。尽管一集成电路于生产过程中会进行可靠度分析以了解该集成电路的正常使用期，不过由于使用者的使用习惯无法预知，因此该集成电路的实际使用期限可能与预期期限有很大落差。

发明内容

鉴于上述，本发明的一目的在于提供一种电路使用期计量装置与一种电路使用期计量方法，以检测一目标电路的剩余使用期，藉此及早作出因应。

本发明披露了一种电路使用期计量装置，用来估测一目标电路的剩余使用期。依据本发明的一实施例，该电路使用期计量装置包含：一关联信号产生电路，用来提供一关联信号，该关联信号产生电路与该目标电路的至少一操作条件相应地变化；一储存电路，用来储存一参考时钟与该关联信号的一初始关系；一计量电路，耦接该参考时钟接收端与该关联信号产生电路，用来计量该参考时钟与该关联信号的一当前关系；以及一估测电路，耦接该储存电路与该计量电路，用来依据该初始关系与该当前关系产生一估测值，其中该估测值指示该目标电路的剩余使用期。

上述实施例中，该电路使用期计量装置可进一步包含：一控制电路，耦接该估测电路，用来依据该估测值限制该至少一操作条件的变化范围，藉此延长该目标电路的剩余使用期或避免其恶化。

本发明还披露了一种电路使用期计量方法，由本发明的电路使用期计量装置或其等效装置来执行，用来估测一目标电路的剩余使用期。依据本发明的一实施例，该电路使用期计量方法包含下列步骤：接收一参考时钟；利用一关联信号产生电路提供一关联信号，该关联信号产生电路与前述目标电路的至少一操作条件相应地变化；储存该参考时钟与该关联信号的一初始关系；计量该参考时钟与该关联信号的一当前关系；以及依据该初始关系与该当前关系产生一估测值，其中该估测值指示该目标电路的剩余使用期。

上述实施例中，该电路使用期计量方法可进一步包含：依据该估测值限制该至少一操作条件的变化范围，藉此延长该目标电路的剩余使用期或避免其恶化。

有关本发明的特征、实作与功效，现配合图式作优选实施例详细说明如下。

附图说明

图1为本发明的电路使用期计量装置的一实施例的示意图；

图2为本发明的电路使用期计量装置的另一实施例的示意图；以及

图3为本发明的电路使用期计量方法的一实施例的示意图。

【符号说明】

100 电路使用期计量装置

110 参考时钟接收端

120 目标电路

130 关联信号产生电路

140 储存电路

150 计量电路

160 估测电路

170 控制电路

S310接收一参考时钟

S320利用一关联信号产生电路提供一关联信号，该关联信号产生电路与一目标电路的至少部分操作条件同步变化

S330储存该参考时钟与该关联信号的一初始关系

S340计量该参考时钟与该关联信号的一当前关系

S350依据该初始关系与该当前关系产生一估测值，其中该估测值指示该目标电路的剩余使用期

具体实施方式

以下说明内容的技术用语参照本技术领域的习惯用语，如本说明书对部分用语有加以说明或定义，该部分用语的解释以本说明书的说明或定义为准。