[发明专利]用于测试电子器件的系统

说明书

本发明涉及用于测试电子器件的系统和方法。本申请公开了用于静电放电探针尖端的适配器。该适配器的实施例包括可以附连到探针尖端的附连器件。第一导体被固定到附连器件上，以便当附连器件被附连到探针尖端时第一导体接触该尖端。第二导体在第一电导体和附连器件外部的一点之间延伸。

背景技术

很多电子器件在承受静电放电(ESD)时容易失效。ESD通常是短时间内的高电压脉冲。当电子器件接收ESD时，放电的能量可能损坏电子器件中的电子元件或使其退化。

ESD的影响是很不可测的。测试电子器件对ESD的敏感性包括使电子器件的样本承受模拟ESD脉冲并且之后测试电子器件以确定其是否已经失效。测试包括两个步骤。第一步包括将ESD模拟器连接到电子器件并且使电子器件承受模拟ESD脉冲。然后ESD模拟器与电子器件断开并且测试装置被连接到电子器件。然后电子器件被测试以确定其是否已经失效，从而确定该器件能否抵抗ESD。

同时将ESD模拟器和测试装置连接到电子器件存在几个问题。一个问题是由ESD模拟器生成的模拟ESD脉冲可能破坏测试装置。另一个问题是模拟ESD脉冲是很短但电压很高的信号。因此，它对可能通过连接到测试器件而发生的加载很敏感。例如，测试装置中的内部电容或测试装置的引线可能将模拟ESD脉冲抑制到没有使电子器件承受正确的模拟ESD脉冲的一点处。

因此，需要一种更简单的用于测试电子器件的方法和器件。该方法和器件需要快速地向电子器件提供准确的模拟ESD脉冲并使测试装置不被损坏。

发明内容

本申请公开了用于静电放电探针尖端的适配器。该适配器的实施例包括可附连到探针的尖端的附连器件。第一导体被固定到附连器件上，以便当附连器件被附连到尖端时第一导体接触尖端。第二导体在第一导电体与附连器件外部的一点之间延伸。

附图说明

图1是用于确定被测器件能否承受ESD的测试系统的示意图的实施例。

图2是图1的测试探针的放大示意图。

图3是图2的测试探针的附连机构的横截面侧视图。

图4是描述图1的测试系统100的操作的实施例的流程图。

具体实施方式

图1中示出一种用于测试被测器件104的系统100。在图1的实施例中，被测器件104是集成电路。然而，被测器件104并不限于集成电路并且可以是任何电子器件。ESD探针106可与被测器件104的引线108电连接。ESD模拟器110通过电线114与ESD探针106连接。在某些实施例中，ESD模拟器110和ESD探针106是单个器件，比如手持器件。在此类器件中，没有电线114。ESD模拟器110生成模拟静电放电的电信号。例如，ESD模拟器可以生成持续时间几纳秒的几千伏的模拟ESD脉冲。模拟ESD脉冲通过探针106被传送到被测器件104。

测试装置120通过电线122、继电器124和另一根电线126电连接到探针106。继电器124具有打开状态和闭合状态，在打开状态下测试装置120没有电连接到探针106，在闭合状态下测试装置120电连接到探针106。继电器124可以是将测试装置120与探针106电连接或断开的开关。电线122可以相对较短以便在电学上将继电器124定位成靠近探针106。这样一来，电线122的阻抗可能将对探针106发射的模拟ESD脉冲具有很小的影响。