[发明专利]时钟检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机及通信技术领域，特别是涉及一种时钟检测方法及装置。

背景技术

在工业控制系统中，微控制器（MCU，Micro Control Unit）中的时钟是控制逻辑输入输出和各个通讯设备之间通讯的基础，MCU的时钟信号质量差或MCU的时钟信号丢失，都会导致控制过程发生偏差甚至使整个控制系统崩溃。因此，通过对MCU的时钟检测确保时钟信号的正确性，对于工业控制系统是至关重要的。

现有的MCU时钟检测方法是采用计数器的方式，如图1所示，两个计数器的输入端分别接入基准时钟信号，计数器101的异步复位接口接入被测时钟信号，计数器103的异步复位接口通过反相器105接入被测时钟的反向信号。

当被测时钟信号存在时，两个计数器将不停的被交替清零，图1中与门输出的检测结果不会为高电平，而当被测时钟信号丢失时，由于必有一个计数器不会被清零，该计数器将一直计数为高电平，从而，通过从两个计数结果检测器获得的计数器的计数检测结果会出现高电平，由此便可以判断被测时钟信号是否丢失。

可见，上述方案中需要对基准时钟的信号进行实时获取，由此占用大量的MCU工作资源。同时，上述方案中，只能通过判断检测结果是否为高电平得到MCU的被检测时钟信号是否存在，并不能对MCU时钟信号的准确性进行判定。

因此，亟需一种能够对MCU时钟的准确性进行判定的检测方案。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种时钟检测方法及装置，实现对时钟信号的准确性进行判定，技术方案如下：

一种时钟检测方法，应用于微控制器MCU，所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述方法包括：

获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

其中，所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

其中，所述依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果，包括：

判断所述差值是否在预设的时差范围内，如果是，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息，否则，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

其中，所述获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值，包括：

发送检测指令给所述可编程器件，触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取所述参考计数值。

其中，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送检测指令到可编程器件，包括：

发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

其中，在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，所述方法还包括：

响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

其中，所述确定与所述参考计数值相对应的参考时间长，包括：

获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

一种时钟检测装置，应用于具有连接单元的微控制器MCU，所述连接单元，用于所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述装置包括：

参考计数值获取单元，用于获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

参考时间长确定单元，用于确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

差值获取单元，用于获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

检测结果生成单元，用于依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

其中，所述连接单元为通信连接单元，所述通信连接单元，用于所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

其中，所述差值获取单元，包括：

判断单元，判断所述差值是否在预设的时差范围内；

第一获取单元，用于当所述差值在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息；

第二获取单元，用于当所述差值不在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

其中，所述参考计数值获取单元，包括：