[发明专利]一种OLED产品寿命的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种产品寿命的测试方法，具体涉及一种OLED产品寿命的测试方法。

背景技术

目前国内企业对其研发OLED产品仍然按照常规方法进行寿命测试，不仅耗费大量时间，而且极易落后于产品更新换代的速度，这样寿命测试失去了意义，同时在进行OLED寿命检测时，一般所花费的时间都比较长，并且成本高，严重浪费了人力物力，同时检测出来的寿命的精度比较差。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种OLED产品寿命的测试方法，该方法检测出来的OLED产品寿命的精度高，并且花费的时间短。

为达到上述目的，所述的OLED产品寿命的测试方法包括以下步骤：

1)将被测OLED白光器件焊接在实验板上使OLED白光器件正常发光，给所述实验板施加设定加速电流应力I₁，点亮所述OLED白光器件进行寿命失效试验，当所述OLED白光器件的亮度衰减至开始亮度的50％，记录时间t₁；

2)给所述试验板施加设定的加速电流应力I_i，重复步骤1)，记录对应的寿命时间t_i；

3)根据加速电流应力(I₁、I₂......I_i)以及对应的(t_i、t_i......t_i)得到所述OLED白光器件在平常电流应力I₀的条件下的平均寿命及中位寿命t_0.5。

所述步骤3)包括以下步骤：

1)根据所述加速电流应力(I₁、I₂......I_i)以及与对应的(t₁、t₂......t_i)利用最小二乘法得加速寿命方程：

u＝α-β lnI        (1)

其中，α和β已知常数，I为加速电流压力，u为寿命时间；

2)根据加权平均公式、逆幂定律及Nelson定理得：

τji=tjti=(IjIi)β---(2)]]>

其中，加速系数τ_ji＝t_j/t_i，β为寿命加速方程中的斜率，由此可得利用I_i的电流应力下的试验时间t_i计算得到电流应力Ｉ_j下的试验时间t_j；

3)令j＝0，可得OLED在正常工作应力I₀下相对于加速应力I_i下寿命加速系数的表达式为：