[发明专利]一种用于显示面板的检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体说，涉及一种用于显示面板的检测电路。

背景技术

在薄膜晶体管（TFT-LCD）液晶面板的生产过程中，具体说在阵列制程段和成盒段中通常会采用如点灯测试等测试环节来监控液晶面板的良品率。测试完毕之后可将测试电路与显示区上线路的连接移出或用激光断开（laser out）。但在有些情况下，这种移出或者断开并不是很方便。如果保留测试电路的话，该测试电路中的元器件如TFT开关的源漏极之间会存在漏电流，从而对显示区的数据线和栅极线上产生干扰。在一种情况下，为了防止TFT开关出现截止状态下的漏电流，可以将它们的沟道长度（channel length）做的很大，如10微米左右。但这样一来，针对窄边框设计又非常不利。

因此，需要一种能够有效防止在显示面板使用时测试线路对其产生干扰的面板检测电路。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种能够有效防止在显示面板使用时测试线路对其产生干扰的面板检测电路。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于显示面板的检测电路，该电路包括：

短路棒，其上布设有用于引入测试信号或控制信号的连接线；

晶体管阵列，其栅极连接在所述引入控制信号的连接线上，在所述控制信号的作用下通过所述晶体管的源极、漏极将所述引入测试信号的连接线与所述显示面板的数据线或扫描线相连通，其中，

在所述晶体管阵列的栅极与所述短路棒之间设置一元件，在所述控制信号为使所述晶体管阵列截止的信号时，所述元件用于进一步降低所述栅极上的电压，使得所述晶体管阵列可靠截止。

在本发明的一个实施例中，所述晶体管阵列为TFT薄膜场效应管阵列或MOSFET管阵列。

在本发明的一个实施例中，所述元件为二极管，其中所述二极管的阴极连接所述晶体管阵列的栅极，所述二极管的阳极连接到所述引入控制信号的连接线上。

在本发明的一个实施例中，所述元件为另一晶体管，其中所述另一晶体管的栅极与其源极连接，从而共同连接到所述引入控制信号的连接线上，所述另一晶体管的漏极与所述晶体管阵列的栅极相连。

在本发明的一个实施例中，所述元件为另一晶体管，其中所述另一晶体管的栅极与其源极连接，从而共同连接到所述引入测试信号的连接线上，所述另一晶体管的漏极与所述晶体管阵列的栅极相连。

在本发明的一个实施例中，所述晶体管为TFT薄膜场效应管或MOSFET管。

在本发明的一个实施例中，所述TFT薄膜场效应管的沟道长度为3-5微米。

与现有技术相比，本发明带来以下有益效果：（1）通过在晶体管阵列的栅极与短路棒之间设置用于进一步降低栅极电压的元件，可以在施加低电平信号控制晶体管阵列时使其全部可靠截止，减少了漏电流的出现；（2）控制连接线与测试连接线共用，可防止正常使用显示面板的时候，检测线路的悬空对显示面板带来影响；（3）本发明的检测电路可以进一步减小TFT薄膜场效应管的沟道长度，对窄边框设计有利。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例共同用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是根据本发明的一种检测电路示意图；

图2显示了在两个数字开关之间出现漏电流的示意图；

图3是一种根据本发明改进了的等效电路示意图；

图4是根据本发明一个实施例的检测电路示意图；

图5是另一种根据本发明改进了的等效电路示意图；

图6是根据本发明另一个实施例的检测电路示意图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。