[发明专利]一种基于指端表面粗糙度的测量方法无效
| 申请号： | 201310296898.7 | 申请日： | 2013-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN104296697A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 陈真诚;朱健铭;陈刚;殷世民;梁永波;马进姿 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人： | 廖世传 |
| 地址： | 541004 广*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 指端 表面 粗糙 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于指端表面粗糙度的测量方法，其特征在于：该基于指端表面粗糙度的测量方法包括以下步骤：
a.调制特定波长的激光发射器，保证光纤探针阵列按照一定的扫描方向发出最佳波长的光束；
b.根据表面轮廓对耦合效率的调制原理，可得到探针与指端的距离z与耦合效率的函数关系；
c.由于探针阵列沿特定方向顺序扫描时，接收到的光功率不是连续的，而是一串幅度不同、间隔不等的随机脉冲序列，因而可以得到脉冲的包络，即被测表面的轮廓；
d.确定表面粗糙度的测量基准，利用相关算法计算得到评价表面粗糙度的主要参数。
2.根据权利要求1所述基于指端表面粗糙度的测量方法，其特征在于：该方法还包括对所获取的指端表面粗糙轨迹进行基线漂移处理，以消去手指表面不平整所带来的影响。
3.根据权利要求1或2所述基于指端表面粗糙度的测量方法，其特征在于：所述激光发射器发出的激光束波长为694.3nm。
4.根据权利要求1或2所述基于指端表面粗糙度的测量方法，其特征在于：光纤探针阵列整体被不透光的黑色外壳所包围，光纤探针阵列以及黑色外壳集成为一光纤探头测量装置。
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