[发明专利]一种定位GIS内部放电性故障的方法无效

专利信息
申请号: 201310291490.0 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN103344735A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 高凯;徐红;彭伟;倪浩;姚明 申请(专利权)人: 国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司
主分类号: G01N30/88 分类号: G01N30/88;G01N1/22
代理公司: 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 代理人: 张民华
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 定位 gis 内部 放电 故障 方法
【权利要求书】:

1.一种定位GIS内部放电性故障的方法,包括采样步骤、现场检测步骤和实验室检测步骤,其特征在于,

所述现场检测为检测管检测,所述现场检测步骤为:

(1)将装有来自GIS设备中SF6气体的取样袋与检测管一端连接,检测管另一端插入气体采样器进气嘴;

(2)推拉气体采样器的手柄,多次采集,至检测管中指示剂变色,判断GIS设备中SF6气体组分及其含量;

所述实验室检测为气相色谱分析,所述实验室检测步骤为:

(1)在气相色谱仪器运行稳定后,将已知浓度的以氦气为底的单一组分标准气体进样标定,得到该组分的色谱图峰面积Ais或峰高his

(2)气体进样,将采样容器与气体采样阀的进气口相连接,用样品气冲洗定量管及管路0.5min~1min,关闭采样容器阀门;

(3)组分检测,在稳定的色谱仪工作条件下,切换六通定量阀至进样位置,载气与采样管相连,样品经色谱柱分离、检测器检测,记录不同组分的峰区面积Aig或峰高hig

(4)组分浓度计算,根据不同组分的峰面积Aig或峰高hig,按式(1)计算各组分的浓度

Xig=cis·AigAis---(1)]]>

式中,Xig——样品气体中i组分浓度,μL/L;

cis——标准气体中i组分浓度,μL/L;

Aig——样品气体中i组分的峰面积,mm2

Ais——标准气中i组分的峰面积,mm2

其中Aig、Ais也可用峰高hig、his代替。

所述定位方法为根据GIS中SF6气体组分和式(1)计算各成分的浓度对GIS内部放电性故障定位。

2.根据权利要求1所述的定位GIS内部放电性故障的方法,其特征在于,所述实验室检测步骤的步骤(3)进样时将六通阀切至排空,直到TCD检测器上SF6组分出峰完毕后再将六通阀切至FPD,样品进入FPD检测器。

3.根据权利要求1所述的定位GIS内部放电性故障的方法,其特征在于,所述色谱条件为:色谱柱选用内径1-3mm,长2-4m,80-100目的Porapak Q填充柱。

4.根据权利要求1所述的定位GIS内部放电性故障的方法,其特征在于,所述色谱条件为:进样口温度为100℃;柱温为初始温度60℃,以每分钟20℃升温至180℃,保持样品组分出峰结束。

5.根据权利要求1所述的定位GIS内部放电性故障的方法,其特征在于,所述色谱条件为:进样量为1mL,载气为氦气,载气流速24ml/min,TCD检测器温度为250℃,FPD检测器温度230℃。

6.根据权利要求1所述的定位GIS内部放电性故障的方法,其特征在于,所述检测器采用热导检测器TCD和火焰光度检测器FPD串联方式。

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