[发明专利]高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统有效
申请号: | 201310287532.3 | 申请日: | 2013-07-10 |
公开(公告)号: | CN103345062A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 汤天瑾 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G02B17/08;G02B5/10;G02B1/00;G01C11/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高分辨率 立体 测绘 侦察 一体化 相机 光学系统 | ||
1.高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:包括两个或三个相同的相机光学系统;所述的相机光学系统包括高分辨率立体侦测之路和激光测距之路;所述的高分辨率立体侦测之路包括主镜(1)、次镜(2)、平面反射镜(3)、三镜(4)、四镜(5)、高分辨率立体侦测焦面器件(6);激光测距支路包括主镜(1)、主镜(2)、中继透镜组(7)和激光测距支路焦面接收器件(8);其中主镜(1)和次镜(2)同轴,主镜(1)和次镜(2)的光轴作为相机光学系统的主光轴;高分辨率立体侦测之路和激光测距之路不共视场,且共用主镜(1)、次镜(2);高分辨率立体侦测支路利用轴外光束,激光测距支路使用轴上光束;来自高分辨率立体侦测支路视场内的光线经过主镜(1)、次镜(2)反射之后,透过通光孔到达平面反射镜(3);平面反射镜(3)法线位于相机光学系统子午面内,与主光轴夹角为沿顺时针45°;由平面反射镜(3)反射的高分辨率立体侦测支路光束经三镜(4)和四镜(5)到达高分辨率立体侦测支路焦面器件(6)处成像;来自激光测距支路视场内的光束经过主镜(1)、次镜(2)反射之后,透过激光测距支路中继透镜组(7),汇聚至激光测距支路接收器件(8)处成像;激光测距支路中继透镜组(7)的光轴与主光轴重合,三镜(4)和四镜(5)光轴在子午面内,与主光轴垂直。
2.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的相机光学系统入瞳位于主镜(1)上,主镜(1)、次镜(2)的面形均为非球面反射镜;三镜(4)和四镜(5)为非球面反射镜。
3.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的主镜(1)、次镜(2)的通光口径为圆对称面或者非圆对称面;高分辨率立体侦测支路光束三镜(4)和四镜(5)通光口径为矩形。
4.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的主镜(1)、次镜(2)、平面反射镜(3)的材料为碳化硅,或微晶玻璃,或熔石英。
5.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的激光测距支路中继透镜组(7)包括一片双凸正透镜、一片弯月负透镜、一片弯月负透镜、一片平凸正透镜和一片滤光片;上述激光测距支路中继透镜组(7)中的所有透镜与空气接触的表面镀增透膜;上述激光测距支路中继透镜组(7)中的所有透镜材料为无色光学玻璃,面型为球面,滤光片表面为平面。
6.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的主镜(1)、次镜(2)、平面反射镜(3)、三镜(4)和四镜(5)的反射面镀有金属高反射率反射膜。
7.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的高分辨率立体侦测支路焦面接收器件(6)为线阵CCD或TDICCD探测器接收面。
8.根据权利要求1所述的高分辨率立体测绘侦察一体化相机光学系统,其特征在于:所述的激光测距支路焦面接收器件(8)为大像元尺寸的面阵CCD或TDICCD探测器接收面。
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