[发明专利]一种继电器连接状态检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及继电器检测装置领域，具体为一种继电器连接状态检测装置。

背景技术

高压大电流直流回路中，由于继电器长期处于大电流工作、高压大电流开关状态，使用一段时间后会发生继电器触点烧结短路或断开的现象，影响回路的正常工作，特别是会造成对电池组的过度使用引起安全事故，因此，需对主回路继电器的连接状态进行有效监控。

当前判断继电器连接状态的方法有很多，典型的有两种方案：对继电器线圈开关状态检测的线圈判断法、对继电器触点开关状态检测的触点判断法。线圈判断法通过判断线圈上的电流或两端电压，判断继电器工作状态的开关，但这种方法仅可判断出继电器触点正常情况下的线圈工作状态，无法判断出继电器触点损坏的情况，不符合最终检测目的。

如图2所示。图2为通过电压检测方法检测开关状态的示意图。其中，电池Bat、继电器K1、负载R1组成了应用回路，继电器K1对回路进行有效保护。单片机MCU通过运算放大器Op AMP实现对继电器两端电压的检测，并通过两个开关Op_1和Op_2实现对检测回路的控制。该方法可有效检测出继电器两端的电压，通过判断其电压为0V判断其处于连接状态，电压同Bat电压则为断开状态。

该电路可实现对继电器连接状态的检测，但电路复杂，检测繁琐，需更简单有效的方法实现继电器连接状态的检测。

发明内容

本发明的目的是提供一种继电器连接状态检测装置，以解决现有技术存在的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

一种继电器连接状态检测装置，所述继电器一端连接一个负载R1的一端，负载R1的另一端连接一个电池Bat的负极，电池Bat的正极连接继电器的另一端，由继电器、负载R1、电池Bat构成回路，其特征在于：包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，所述光耦开关Op-_1集电极输出端接入电池Bat正极与继电器之间，光耦开关Op-_1发射极输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2阴极控制端接入继电器与电阻R1之间，所述光耦开关Op-_1的阳极控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_1的阴极控制端通过电阻R3接地，光耦开关Op-_2的集电极输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的发射极输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。

所述的一种继电器连接状态检测装置，其特征在于：所述单片机MCU还与继电器线圈RL连接。

本发明检测方法电路更加简单，控制逻辑清晰，是实效继电器连接状态检测的有效装置。

附图说明

图1为本发明电路原理图。

图2为现有技术通过电压检测方法检测开关状态的示意图。

具体实施方式

如图1所示。一种继电器连接状态检测装置，继电器K1一端连接一个负载R1的一端，负载R1的另一端连接一个电池Bat的负极，电池Bat的正极连接继电器的另一端，由继电器K1、负载R1、电池Bat构成回路，包括光耦开关Op-_1、光耦开关Op-_2、单片机MCU，光耦开关Op-_1集电极输出端接入电池Bat正极与继电器之间，光耦开关Op-_1发射极输出端与光耦开关Op-_2阳极控制端之间接有电阻R2，光耦开关Op-_2阴极控制端接入继电器K1与电阻R1之间，光耦开关Op-_1的阳极控制端接入单片机MCU的输出OUT_1，光耦开关Op-_1的阴极控制端通过电阻R3接地，光耦开关Op-_2的集电极输出端接入电压VCC，光耦开关Op-_2的发射极输出端分为两路，一路接入单片机MCU的输入IN_1，另一路通过电阻R4接地。单片机MCU还与继电器K1线圈RL连接。

电池Bat、继电器K1、负载R1组成了应用回路；单片机MCU、光耦开关Op_1、Op_2及相关限流电阻R2、R3、R4组成继电器连接状态判断回路。

单片机MCU通过对继电器K1线圈RL的管理实现对继电器通断的控制。

光耦开关Op_1平时处于断开状态，此时Op_1输出端与电阻R2、光耦Op_2控制端组成的继电器连接状态处于非工作状态；此时单片机MCU输出OUT_1为低电平、单片机MCU输入IN_1为低电平。