[发明专利]手持式探测器

权利要求书

1.具有至少一个探测装置（12）的手持式探测器，所述探测装置设计用于，对工件（14）中的交流电压进行探测，其特征在于，所述手持式探测器具有校准发射器（16），所述校准发射器设计用于，发出交流电压的至少一个校准信号（18、20），其中，所述探测装置（12）和所述校准发射器（16）布置在所述手持式探测器的装置壳体（50）中，其中，所述校准发射器（16）具有至少一个发射天线（30、32），所述发射天线设计用于，将所述校准信号（20）至少发射到由所述装置壳体（50）的握持面（52）限定的保持区域（34）中，其中，所述探测装置（12）接收用于进行校准的、所述校准信号（20）的分量（22、24），并且其中，所述发射天线（30、32）与所述探测装置（12）的至少一个探测天线（36）相比布置成更接近于所述保持区域（34）。

2.根据权利要求1所述的手持式探测器，其特征在于计算单元（26），所述计算单元设计用于，借助于校准信息来校准探测结果，所述校准信息取决于接收到的所述校准信号（18、20）的分量（22、24）。

3.根据权利要求1或2所述的手持式探测器，其特征在于，所述校准发射器（16）具有至少一个发射天线（28），所述发射天线设计用于，将所述校准信号（18）至少发射到所述工件（14）中。

4.根据权利要求1或2所述的手持式探测器，其特征在于，所述校准发射器（16）具有发射天线（28），所述发射天线至少部分地与所述探测装置（12）的探测天线（36）一体构成。

5.根据权利要求4所述的手持式探测器，其特征在于，所述探测天线（36）设计用于，利用高频探测信号进行探测。

6.根据权利要求1或2所述的手持式探测器，其特征在于，所述探测装置（12）具有多个探测天线（36、38、40、42、44）。

7.根据权利要求1或2所述的手持式探测器，其特征在于，所述校准发射器（16）具有多个发射天线（28、30、32）。

8.用于校准手持式探测器（10）的方法，该手持式探测器具有：校准发射器（16），所述校准发射器发出交流电压的校准信号（18、20）；和探测装置（12），所述探测装置在校准之后对工件（14）中的交流电压进行探测，其中，所述探测装置（12）和所述校准发射器（16）布置在所述手持式探测器的装置壳体（50）中，其中，所述校准发射器（16）具有至少一个发射天线（30、32），所述发射天线设计用于，将所述校准信号（20）至少发射到由所述装置壳体（50）的握持面（52）限定的保持区域（34）中，其中，所述探测装置（12）接收用于进行校准的、所述校准信号（20）的分量（22、24），并且其中，所述发射天线（30、32）与所述探测装置（12）的至少一个探测天线（36）相比布置成更接近于所述保持区域（34）。