[发明专利]一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种磁粉检测灵敏度校验方法，尤其是一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，属于无损检测技术领域。 

背景技术

对于铁磁性材料深孔环形件内壁的检测，通常采用的方法有目视检测、渗透检测、超声检测、涡流检测和磁粉检测等。采用目视检测时，须通过内窥镜进行观察，只能检测表面开口且尺寸较大的缺陷，检测效率低，对于近表面未开口缺陷无法进行检测。渗透检测方法由于难以对内壁进行清洗、渗透及显像剂的施加，也很难采用。超声波检测需要制作实物对比试块，检测成本高、效率低。涡流检测同样需要根据内孔尺寸加工对比试块，同时须定制探头，受内壁表面状态影响，误判可能性大。磁粉检测方法操作简单、检测效率高、成本低，通过磁痕可以更加直观地观察缺陷，但该方法的应用首先须解决深孔环形件的系统灵敏度校验问题及后续的磁痕观察问题。 

在磁粉检测过程中，试片是用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能必备的器材之一，此外还可用于了解被检工件表面大致的有效磁场强度、方向以及有效检测区域，还可用于考察所用的检测工艺规程和操作方法是否妥当。对几何形状复杂的工件磁化时，由于各部位的磁场强度分布不均匀，无法用经验公式计算磁化规范，磁场方向也难以估计，此时将小而柔软的试片贴在复杂工件的不同部位，可大致确定较理想的磁化规范，从而为保证工件磁粉检测质量创造条件。 

然而，由于受深孔环形件形状尺寸限制，无法在工件中部内壁粘贴系统灵敏度试片，眼睛也无法对内壁进行直接观察，从而导致对环形件的磁化规范无法进行确认，这是造成深孔环形件内壁磁粉检测方法一直难以得到广泛应用的瓶颈所在。 

发明内容

    本发明的目的是：提供一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，从而为深孔环形件内壁进行磁粉探伤的可行性判定提供科学依据。 

为了达到上述目，本发明的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法包括以下基本步骤： 

第一步、取待检深孔环形件之一作为校验样件，在对应深孔环形件中部的位置进行切割，形成穿透环形件的缺口，并获得与所述缺口相配的镶块；

第二步、通过所述缺口将磁粉检测灵敏度试片粘贴在适宜观察试片磁粉表面状态的环形件内壁处，再将镶块嵌在深孔环形件的缺口处固定；

第三步、对固定好镶块的深孔环形件进行喷淋磁化，再将镶块取下，通过观察环形件内壁的磁粉检测灵敏度试片显示，判定深孔环形件内壁的磁粉检测系统灵敏度是否满足要求（即系统综合灵敏度是否满足要求）。

本发明进一步的完善是，所述缺口为轴向截面呈规则几何形状的缺口。这样可以在形成缺口后，加工出截面与所述缺口相配且具有与深孔切除部分相配圆弧凹槽的镶块。在将磁粉检测灵敏度试片粘贴在所述镶块的圆弧凹槽中部之后，将镶块嵌在深孔环形件的缺口处固定，使圆弧凹槽恰好弥补深孔切除部分，从而消除切割缝隙对检测可能产生的影响。 

 本发明更进一步的完善是，所述规则几何形状的缺口优选T形缺口，所述镶块为截面与T形缺口相配的T形镶块。为了获得更为理想的校验效果，T形镶块宽边的最大高度应小于深孔环形件的壁厚，这样便于保证深孔的封闭性。其次,T形镶块的窄边高度公差应取T形缺口实际高度的正差，从而确保T形镶块底边与深孔环形件的T形缺口底边贴合。此外，T形缺口和T形镶块的宽边两侧下表面形成V形倾斜，这样有利于T形镶块的嵌入定位。 

实践证明，本发明突破了长期以来的思想禁锢，只需在同规格深孔环形件中任一选择一件校验，即可确定其内壁磁化规范，从而以简单合理的方法妥善解决以往未想出解决方案的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度的校验问题，使磁粉检测系统得以应用在经校验合格的许多深孔环形件的检测场合。 

附图说明     

下面结合附图对本发明的实施例作进一步的详细描述。

图1是本发明一个实施例的深孔环形件及镶块结构示意图。 

图2是图1深孔环形件的侧视图。 

图3是图1实施例的嵌入状态示意图。 

具体实施方式

实施例一 

本实施例的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法参见图1至图3，步骤为：

1、随机取一件待检深孔环形件1作为校验样件，利用线切割切出对应深孔中部位置，形成贯穿深孔1-2且轴向截面为T形的缺口3，并获得与缺口3相配的镶块2，或者切除对应深孔中部位置，加工出截面与T形缺口相配且具有与深孔切除部分相配圆弧凹槽的T形镶块2。