[发明专利]空心阴极灯装置有效

专利信息
申请号: 201310220745.4 申请日: 2013-06-05
公开(公告)号: CN103337447A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 叶反修;史先春 申请(专利权)人: 无锡市金义博仪器科技有限公司
主分类号: H01J61/09 分类号: H01J61/09;H01J61/04;G01N21/01
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 杜丹盛
地址: 214151 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 空心 阴极 装置
【说明书】:

技术领域

    本发明涉及金属光谱分析的技术领域,具体为空心阴极灯装置。

背景技术

目前市场上的叶片、轴的主体材质都是由高熔点的合金构成,但是在制作过程中,材料的内部会混入一些例如锡、铅、铋等低熔点金属杂质,导致在叶片、轴高速运转过程中,这些低熔点金属杂质先熔化,进而在叶片、轴上形成裂缝,导致这些机械结构的工作寿命短。

在光谱分析中所谓的等离子体光源,通常指外观上类似火焰的一类放电光源。目前最常用的有三类:即电感耦合等离子体炬(ICP)、直流等离子体喷焰(DCP)和微波感生等离子体炬(MIP)。对于MIP来说,虽然允许微量进样,耗气量小,功率低、易测定非金属,但对多数金属检测限差、元素间干扰严重、需要氦气,因此主要用于色谱分析的检测器。ICP和DCP这两类等离子体光源具有较好的分析性能,均已应用于原子发射光谱仪。但是现有的ICP和DCP这两类等离子体光源检出限为0.001%的检出限,对于更低含量的杂质金属其无法进行检测。且在现有的光谱仪中,空心阴极灯仅仅起到发光的作用,其作用单一。

发明内容

针对上述问题,本发明提供了空心阴极灯装置,其能够通过在空心阴极灯内部结合外置的光谱仪,直接检测出待检测合金中的低熔点杂质的含量,且其精度能够达到0.00001%~0.0001%,其检测精度高。

空心阴极灯装置,其技术方案是这样的:其包括玻璃管、顶端盖、垫块、后部固定块,所述玻璃管的前端设置有所述顶端盖,所述玻璃管的后端设置有所述垫块,所述垫块紧固连接其后部的所述后部固定块,其特征在于:所述玻璃管内部设置有石墨电极,所述石墨电极通过连接杆连接所述玻璃管的前端部,所述玻璃管的后部设置有钨棒,所述钨棒的前端焊接连接有镍片结构,所述钨棒的后端插装于所述垫块内部,所述石墨电极的朝向所述钨棒的一端设置有空心置物腔,所述空心置物腔内放置待检测合金,所述玻璃管的内部充满惰性气体。

其进一步特征在于:所述玻璃管的外环面外侧设置有固定杆,每根所述固定杆的两端分别连接所述顶端盖、垫块,并通过固定螺钉紧固连接;

所述玻璃管和所述顶端盖的接触面间设置有硅胶垫;

所述连接杆的前端贯穿所述硅胶垫、顶端盖,堵头盖装于所述顶端盖的前部套装孔内,所述堵头封堵住所述连接杆的前部。

采用本发明的结构后,石墨电极作为空心阴极灯的阴极,石墨电极的空心置物腔内放置待检测合金,焊接有镍片结构的钨棒作为阳极,当在两级之间施加高电压时,待检测合金中的低熔点金属先发光、之后高熔点金属发光,根据其金属发光的光谱通过光谱仪分析,能够分析得出待检测合金的低熔点杂质的含量,且其精度能够达到0.00001%~0.0001%,检测精度高。

附图说明

图1为本发明的立体图结构示意框图;

图2为本发明的主视图结构示意图。

具体实施方式

见图1、图2,其包括玻璃管1、顶端盖2、垫块3、后部固定块4,玻璃管1的前端设置有顶端盖2,玻璃管1的后端设置有垫块3,垫块3紧固连接其后部的后部固定块4,玻璃管1内部设置有石墨电极5,石墨电极5通过连接杆6连接玻璃管1的前端部,玻璃管1的后部设置有钨棒7,钨棒7的前端焊接连接有镍片结构8,钨棒7的后端插装于垫块3内部,石墨电极5的朝向钨棒7的一端设置有空心置物腔9,空心置物腔9内放置待检测合金14,玻璃管1的内部充满惰性气体。玻璃管1的外环面外侧设置有固定杆10,每根固定杆10的两端分别连接顶端盖2、垫块3,并通过固定螺钉11紧固连接;玻璃管1和顶端盖2的接触面间设置有硅胶垫12;连接杆6的前端贯穿硅胶垫12、顶端盖2,堵头13盖装于顶端盖2的前部套装孔内,堵头13封堵住连接杆6的前部。

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