[发明专利]部件异常监测方法和电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种监测技术，尤其涉及一种部件异常检测方法和电子设备。

背景技术

现有电子设备在运行过程中，很容易因使用不当或外界环境因素)导致某个部件当机，产生功能故障，比如电子设备比较容易产生ESD(Electro-Static discharge，静电释放)问题，LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)、CTP(Capacity Touch Panel，电容式触摸屏)，音频Codec系统等具有MCU(Micro Control Unit)中文名称为微控制单元)特征的微控器，在接受到ESD冲击时候容易产生当机，导致功能故障，一般需要重新启动才能恢复。

现有解决方案通常由中央控制器读取各个部件，比如液晶显示屏(LCD)的内部寄存器变化的值，与正常值比较，对差别值进行监控，如果发现有问题则重新初始化LCD，但这种解决方案存在以下问题，定位往往复杂，有些情况下无法准确定位，存在不定性，且中央控制器需要轮询各个部件，需要占用系统资源，初始化时会导致屏幕白一下，用户使用体验不佳，系统响应速度慢。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是一种部件异常监控方法和电子设备，以解决现有技术对发生静电释放事件响应速度慢的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种部件异常监控方法，该方法应用于电子设备，所述电子设备包括多个部件、第一处理单元以及第二处理单元，所述方法包括：

当检测到静电释放事件时，所述第一处理单元控制所述多个部件进行自检，以获取所述多个部件的运行状况；

所述多个部件中的第一部件出现异常时，将所述异常上报至所述第一处理单元；

所述第一处理单元上报至所述第二处理单元，所述第二处理单元控制所述第一部件进行重新初始化。

进一步地，所述部件根据电压检测结果监控其自身的运行状况。

进一步地，所述部件包括主芯片、电源电路、电压监控电路，所述第一处理单元控制所述多个部件进行自检包括：

所述第一处理单元向部件的主芯片发送自检控制信号；；

所述主芯片控制所述电源电路产生测试电压信号；

所述主芯片控制所述电压检测电路检测所述电压信号；

所述主芯片根据所述电压检测结果判断运行状况，并在出现异常时向所述第一处理单元上报运行状况。

进一步地，所述主芯片通过中断通信方式向第一处理单元上报运行状况。

进一步地，所述主芯片利用故障寄存器的相应标志位体现监测结果。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种电子设备，该电子设备包括：

多个部件，用于基于第一处理单元的控制进行自检，并在出现异常时，向所述第一处理单元上报；

所述第一处理单元，在发生静电释放事件时，用于控制所述多个部件进行自检，以获取所述多个部件的运行状况，还用于向第二处理单元上报多个部件中的第一部件出现异常；

所述第二处理单元，用于控制出现异常的第一部件进行重新初始化。

进一步地，所述器件包括：

主芯片，用于接收第一处理单元发送的自检控制信号，控制电源电路和电压检测电路，以及根据电压检测结果判断运行状况，并在出现异常时向所述第一处理单元上报运行状况；

电源电路，用于基于所述主芯片的控制产生测试电压信号；

电压检测电路，用于基于所述主芯片的控制测试所述电压信号。

进一步地，所述主芯片通过中断通信方式上报所述异常信息。

进一步地，所述主芯片利用故障寄存器的相应标志位体现监测结果。

与现有技术相比，本发明方法和电子设备通过利用两个处理单元分别触发部件自检以及根据自检结果对部件进行重新初始化，提高了对静电释放事件的响应速度，改善了用户的使用体验。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1是本发明部件异常监控方法实施例的示意图；

图2是图1中第一处理单元控制所述多个部件进行自检的步骤的具体流程示意图；

图3是本发明电子设备实施例的模块结构示意图；