[发明专利]用于扫描岩石面孔率的设备及方法

权利要求书

1.用于扫描岩石面孔率的设备，其中所述岩石的孔隙中填充有荧光物质，所述设备包括：

能够沿竖直方向上下移动的载物台，用于放置岩石样品；

在所述载物台的上方依次从下至上布置的物镜透镜、偏光镜和聚焦透镜，所述物镜透镜的一个焦平面处于所述岩石样品内部的观测剖面中；

布置在所述偏光镜一侧的能够移动的激光扫描单元，所述激光扫描单元发射的激光能够经所述偏光镜和所述物镜透镜投射到所述岩石样品的观测剖面上；

在所述聚焦透镜的上方依次从下至上布置的荧光入射孔板和光电信号放大器，所述聚焦透镜的一个焦点位于所述荧光入射孔板的孔中，所述光电信号放大器能够接收来自被激光激活的荧光物质的荧光信号并将其转换为电信号；

控制处理单元，其能够控制所述载物台的上下移动，控制所述激光扫描单元的工作，接收并处理来自所述光电信号放大器的电信号。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述载物台的移动距离处于10^-1微米量级。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述激光扫描单元能够移动并使激光对岩石样品的整个观测剖面进行扫描。

4.根据权利要求1到3中任一项所述的设备，其特征在于，来自所述光电信号放大器的电信号转换成数字信号存储在所述控制处理单元中。

5.根据权利要求1到4中任一项所述的设备，其特征在于，所述控制处理单元能够通过绘制所述岩石样品的观测剖面的图像来计算岩石面孔率的值。

6.通过根据上述权利要求中任一项所述的设备扫描岩石面孔率的方法，包括：

步骤1：将荧光物质置于岩石样品的孔隙中；

步骤2：将岩石样品置于所述设备的载物台上，通过控制处理单元调节岩石样品到物镜透镜的距离，使物镜透镜的焦平面处于所期望的岩石样品的观测剖面中；

步骤3：通过控制处理单元控制激光扫描单元工作，使激光经偏光镜、物镜透镜聚焦到所述物镜透镜的位于岩石样品的观测剖面中的焦点处；

步骤:4：若所述焦点处的岩石样品为孔隙，则入射激光激发荧光物质发出荧光信号，通过所述光电信号放大器接收所述荧光信号，所述光电信号放大器将所获得的荧光信号转换成电信号传递到控制处理单元；

步骤5：通过所述激光扫描单元的运动使入射激光扫描岩石样品的整个观测剖面；

步骤6：经控制处理单元处理后得到所需要的面孔率数据和岩石储层孔喉特征参数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在步骤1中，将荧光物质溶解到环氧树脂中后放入容器中，然后把待测岩石样品放入所述容器中使其完全浸入环氧树脂中，把容器密封后通过改变容器的内容积实现内部压力升高，将溶有荧光剂的环氧树脂灌注到岩石样品的孔隙中，然后取出岩石样品用于成像测试。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述荧光物质为玫瑰红色。

9.根据权利要求6到8中任一项所述的方法，其特征在于，通过在竖直方向上上下移动所述载物台，获得岩石样品的不同的观测剖面的图像，通过所述控制处理单元将不同的观测剖面的图像组合以得到岩石样品的三维成像。

10.根据权利要求6到9中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤4中，来自荧光物质的荧光透过物镜透镜、偏光镜后经所述聚焦透镜聚集到所述荧光入射孔板的孔中，并通过所述荧光入射孔板的孔进入所述光电信号放大器。