[发明专利]非线性大口径光学元件多姿态调整机构

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学元件工作姿态调整机构。

背景技术

应用于激光核聚变领域的非线性大口径光学元件，承担着高能激光谐波转换的任务，工作时以多种姿态安装于光路中，每种工作姿态中非线性光学元件的法线方向与重力方向成一定角度，重力作用下非线性光学元件发生一定变形，导致其谐波转换效率下降。不同工作姿态时非线性光学元件的法线方向与重力方向所成角度不同，重力作用下发生的变形不同，对非线性大口径光学元件进行多角度重力载荷施加试验，研究不同工作姿态中非线性大口径光学元件发生的变形及其谐波转换效率，提出合理的非线性大口径光学元件夹持方案，有利于提高其对高能激光的谐波转换效率。

发明内容

本发明的目的是提供一种非线性大口径光学元件多姿态调整机构，以解决现有的非线性大口径光学元件夹持技术试验研究中不能施加多角度重力载荷的问题。

本发明为解决上述技术问题采取的技术方案是：所述机构包括支架、支撑框、两个转轴组件、两个弧形导轨和两个限位块，支架由底座和框架二者固接制成一体，支撑框设在框架内且二者通过两个转轴组件转动连接，支撑框用于连接非线性大口径光学元件夹持组件，框架顶部的两端分别与弧形导轨的一端可拆卸连接，每个弧形导轨上开有定位孔，限位块在定位孔处通过定位螺钉与弧形导轨可拆卸连接，支撑框与两个限位块搭接。

本发明具有以下有益效果：本发明通过限位块保证支撑框围绕转轴组件进行不同角度转动，实现非线性大口径光学元件多种工作姿态调整。本发明还具有结构简单和制造成本低的优点。

附图说明

图1为本发明的整体结构简图。图2为是转轴组件与框架之间的位置关系局部剖视图。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1说明本实施方式，本实施方式的所述机构包括支架1、支撑框2、两个转轴组件3、两个弧形导轨7和两个限位块8，支架由底座1-1和框架1-2二者固接制成一体，支撑框2设在框架1-2内且二者通过两个转轴组件3转动连接，支撑框2用于连接非线性大口径光学元件夹持组件10，框架1-2顶部的两端分别与弧形导轨7的一端可拆卸连接，每个弧形导轨7上开有定位孔7-1，限位块8在定位孔7-1处通过定位螺钉与弧形导轨7可拆卸连接，支撑框2与两个限位块8搭接。

具体实施方式二：结合图2说明本实施方式，本实施方式的所述支撑框2与框架1-2通过转轴组件3转动连接，转轴组件3包括转轴3-1、轴承3-2、轴端挡圈3-3和轴承端盖3-4，框架1-2的两侧开有轴承座孔1-2-1，轴承3-2安装于轴承座孔1-2-1内，支撑框2的两侧开有轴承孔1-2-2，转轴3-1的一端安装于轴承孔1-2-2内，另一端安装于轴承3-2的内孔内，转轴3-1的两端加工凹槽，轴端挡圈3-3安装于凹槽内，轴承端盖3-4安装于框架1-2的轴承座孔1-2-1处。其它实施方式与具体实施方式一相同。

具体实施方式三：结合图1说明本实施方式，本实施方式的所述框架1-2的两侧的轴承座孔1-2-1的中心线位于同一直线上，轴承3-2的中心线与轴承座孔1-2-1的中心线重合，转轴3-1的中心线与轴承座孔1-2-1的中心线重合。其它实施方式与具体实施方式一相同。

具体实施方式四：结合图1说明本实施方式，本实施方式的所述弧形导轨7的中心线为一规则圆弧段，其圆心在转轴3-1的中心线上，其半径为转轴3-1中心线至弧形导轨7的中心线的距离，两个弧形导轨7的中心线所对应的圆心角大小一致，两个弧形导轨7安装位置一致，互相平行。其它实施方式与具体实施方式一相同。

具体实施方式五：结合图1说明本实施方式，本实施方式的所述定位孔7-1的中心线与弧形导轨7的中心线相交，每两个定位孔7-1为一组，多组定位孔7-1分布于弧形导轨7上，每组内两个定位孔7-1的中心线间的距离一致，不同组的定位孔7-1的中心线至弧形导轨7的中心线端点的距离不同，两个弧形导轨7上的定位孔7-1的分布相同，对应处定位孔7-1的中心线重合。其它实施方式与具体实施方式一相同。

具体实施方式六：结合图1说明本实施方式，本实施方式的所述限位块8上开有两限位孔8-1，两个限位孔8-1的中心线间的距离与每组内两个定位孔7-1的中心线间的距离相等，定位螺钉连接限位孔8-1与定位孔7-1，实现限位块8与弧形导轨7的可拆卸连接，支撑框2与限位块8搭接，满足工作姿态要求，限位孔8-1与不同组的定位孔7-1连接，实现支撑框2多工作姿态的调整。其它实施方式与具体实施方式一相同。

工作原理：试验时，将非线性大口径光学元件夹持组件10固连于支撑框2上，采用螺钉连接，根据所需角度，将限位块8安装到弯导轨7相应螺纹孔处，采用螺钉连接，转动支撑框2，直至支撑框2与限位块8相接触，此时非线性大口径光学元件已调整至所需工作姿态，可进行此种工作姿态中重力载荷作用下非线性大口径光学元件变形的试验测试，这一工作姿态测试完成后，重复以上步骤，将非线性大口径光学元件调整至另一工作姿态，进行相关测试。