[发明专利]等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种等离子显示屏制造过程特性的数据挖掘技术，尤其是涉及一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法。 

背景技术

等离子显示屏制造过程参数取值非常重要。具体的说，等离子显示屏制造过程参数取值不同会直接导致制造结果的差异。等离子显示屏制造过程参数取值，以前是通过建设期的试验设计和反复验证来确定。随着生产规划扩大化与7*24小时不间断量产，若继续采用传统的试验设计方法将浪费大量的人力和动能消耗成本，同时还需要生产线进行停线来进行试验参数取值的调试设计。这种方法一方面降低了量产的生产效率，同时将耗费大量的人力和动能消耗成本。因此需要一种新的方法来动态进行制造过程参数取值的确定与优化。 

随着等离子显示屏大批量产，又面临数据海量状况。等离子显示屏制造过程量产过程中，单台等离子显示屏产品生产过程设备参数纳入MES系统存储达到1.2万个，每天数据量10G以上，涉及到的参数超过9000个，在数量，维度和数据产生速度上具有海量大数据特征,更加迫切需要发明一种新的方法来动态进行制造过程参数取值的确定与优化。 

本发明应这种背景之下展开的。 

发明内容

为了克服现有技术的上述缺点，本发明提供了一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，通过对参数观测值出现的次数以及对应观测值下屏的等级进行关联，确定与各参数取值关联性最大的屏等级，从而将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。 

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，包括如下步骤： 

步骤一、在待处理数据上对不同的参数取值进行屏产品等级关联，并计算出各参数取值下对应屏产品的不同等级出现的次数； 

步骤二、确定与各参数取值关联性最大的屏等级； 

步骤三、将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。 

与现有技术相比，本发明的积极效果是：节约通过反复试验设计与验证的方式所耗费时间和资源成本，提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程参数取值的准确性，并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏品质的制造过程参数取值，制造技术人员依据参数取值建议值，进行参数值管控，不但达到持续螺旋式提升等离子显示屏良品率的目的，而且还间接降低制造过程的废品率。同时，在方法模型的使用过程中，不会涉及生产线的中断生产,避免了不必要的停线损失。 

具体实施方式

一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，包括以下步骤： 

步骤一、在待处理数据上对不同的参数取值进行屏产品等级关联，并计算出各参数取值下对应屏产品的不同等级出现的次数； 

步骤二、确定与各参数取值关联性最大的屏等级： 

（1）按如下公式计算自信度： 

P(Zα/2<acc-pp(1-p)/N<Z1-α/2)=1-α,]]>

式中p为均值，α为期望的良率，N表示总共样本数量，acc表示在观测 到的样本上的良率，Z_α/2表示在当前良率acc的条件下，以当前良率分布为基准的概率下限，Z_1-α/2表示在当前良率acc的条件下，以当前良率分布为基准的概率上限。 

（2）按如下公式计算自信度区间：