[发明专利]显示设备、用于补偿劣化的装置及用于补偿劣化的方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示设备、劣化补偿设备和劣化补偿方法。更具体地，本发明涉及用于补偿发光元件的劣化的显示设备、劣化补偿设备及劣化补偿方法。

背景技术

有机发光二极管（OLED）显示器使用有机发光二极管（OLED）来通过电流或电压控制亮度，并且使用薄膜晶体管来驱动有机发光二极管。有机发光二极管（OLED）包括用于形成电场的阳极层和阴极层，以及通过电场发光的有机发光材料。根据有源层的类型，将薄膜晶体管分类为非晶硅薄膜晶体管（非晶硅TFT）、低温多晶硅（LTPS）薄膜晶体管和氧化物薄膜晶体管（TFT）。

有机发光二极管（OLED）和薄膜晶体管的劣化使像素劣化，而像素的劣化造成像素的亮度退化。当向像素施加预定的电压时，流向像素的电流由于有机发光二极管（OLED）和薄膜晶体管的劣化而减小，并且像素的亮度退化。

考虑到像素的劣化，在交付产品时，可以将用于提供像素的驱动电流的电源电压设置成具有大的值，并且在此情况下，在有机发光二极管（OLED）和薄膜晶体管劣化之前，也提供不必要的电压，从而增加了显示设备的功耗。

上面在该背景技术部分中公开的信息仅用于增进对本发明背景的理解，因此其可以包含不构成在本国对本领域技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

开发本发明，试图提供一种显示设备，一种劣化补偿设备和一种劣化补偿方法，以降低显示设备的功耗和补偿像素的劣化。

本发明的示例性实施例提供一种显示设备，所述显示设备包括：多个像素；劣化补偿器，用于利用关于参考温度的温度权重值、关于参考亮度的亮度权重值以及关于参考材料的材料权重值，来计算所述像素的劣化率被转换为参考劣化曲线的参考劣化率时的参考使用时间，并且用于根据所述参考使用时间生成控制变量；以及电源，用于根据所述控制变量来控制用于向所述像素供应驱动电流的第一电源电压与第二电源电压之间的电压差。

所述温度权重值表示由所述像素的测量温度引起的劣化率与所述参考温度下的劣化率的比率。

所述劣化补偿器将与所述像素的测量温度对应的温度权重值存储在查找表（LUT）中。

所述劣化补偿器计算包括有关所述像素的灰度信息的图像数据信号的平均灰度，并且计算图像的与所述图像数据信号的平均灰度相对应的亮度。

所述亮度权重值是由所述图像的亮度引起的劣化率与所述参考亮度的劣化率的比率。

所述劣化补偿器将与所述图像数据信号的平均灰度相对应的亮度权重值存储在查找表（LUT）中。

所述劣化补偿器将与所述图像的亮度相对应的亮度权重值存储在查找表（LUT）中。

所述材料权重值是由在所述像素中包含的材料引起的劣化率与包含所述参考材料的像素的劣化率的比率。

所述劣化补偿设备通过利用累积使用时间与通过将在所述像素的所述累积使用时间之后增加的附加使用时间乘以所述温度权重值、所述亮度权重值和所述材料权重值而生成的值的和，计算所述参考使用时间。

所述劣化补偿器利用所计算的参考使用时间更新所述像素的累积使用时间，并且存储所述像素的累积使用时间。

所述劣化补偿设备通过利用累积使用时间与通过将在所述像素的所述累积使用时间之后增加的附加使用时间乘以所述温度权重值、所述亮度权重值、所述材料权重值和随所述累积使用时间而定的时间权重值而生成的值的和，来计算所述参考使用时间。

所述电源在所述控制变量增大时降低所述第二电源电压，以增大所述第一电源电压与所述第二电源电压之间的电压差。

所述电源在所述控制变量增大时增大所述第一电源电压，以增大所述第一电源电压与所述第二电源电压之间的电压差。