[发明专利]一种探针卡及LED快速点测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种LED快速点测方法，尤其涉及一种用于LED点测的探针卡以及LED快速点测装置及点测方法。

背景技术

由于受限于LED外延片的制备工艺，所以当前的LED芯片还很难满足光电特性的一致性要求，因而在投入后续封装使用之前，必须对LED芯片进行严格的测试和分选，因此，LED芯片的点测是LED生产中的一个重要环节。现有的LED芯片点测方式一般采取一对探针进行单点测试方式，只能对LED芯片个体进行逐个点亮、逐个检测，即逐一点测圆片上的每一颗芯片的发光特性，这种测试方法测试时间冗长，测试效率低。申请号为CN201010621746.6，发明名称为“圆片级发光二极管芯片检测方法、检测装置及透明探针卡”的中国专利文献，公开了这样的技术方案：利用透明探针卡导通基材上的LED芯片，以对一部分或所有的LED芯片进行点亮测试，在LED芯片点亮后，利用成像模块及影像处理模块进行一次或多次取象，如此可一次获得所有LED芯片的光场信息以及位置信息，相比于仅能对单颗LED芯片进行检测的传统点测装置，该种技术方案提高了测试效率，但是该探针卡的多个接点呈矩阵式排布，测试P电极的接点和测试N电极的接点相互交叉排布，排列复杂，易造成光路干扰，影响分析结果。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种探针卡，应用到LED点测时能够简化点测过程，提高点测速度。基于此，本发明还提供一种LED快速点测装置及点测方法。

为解决以上技术问题，本发明的技术方案是：

一种探针卡，包括基板、多个探针组，多个探针组设置在基板上并沿基板的长度方向分布成一行，每个探针组包括呈一列设置的用于接触LED芯片P电极的第一探针以及用于接触LED芯片N电极的第二探针，基板上设有窗口，探针组的第一探针、第二探针的一端露出在窗口中。

优选地，还包括电控机构，电控机构用于按预定的控制策略将外接的电源装置的电信号逐个供给至指定的探针组。

优选地，所述电控机构包括用于将探针组与外接的电源装置连接的电路以及与电路电性连接的控制器。

优选地，所述控制器包括：

输入单元，用于设置预定的时间间隔以及设定探针组的指定策略；

时钟单元，用于按预定的时间间隔发出工作信号；

寻址单元，用于按探针组的指定策略查找指定的探针组所在的位置并发出位置信号；

处理单元，根据工作信号及位置信号将外接的电源装置的电信号供给至指定的探针组。

本发明的LED快速点测装置，包括用于承载LED芯片的承载台、位于承载台上方的探针卡、用于向探针卡供给电流的电源装置、位于探针卡上方的用于采集被点亮的LED芯片发出的光的采光模块以及与采光模块连接的用于分析采集到的光的光电特性的分析模块，所述探针卡包括基板、多个探针组，多个探针组设置在基板上并沿基板的长度方向分布成一行，每个探针组包括呈一列设置的用于接触LED芯片P电极的第一探针以及用于接触LED芯片N电极的第二探针，基板上设有窗口，探针组的第一探针、第二探针的一端露出在窗口中。

优选地，所述采光模块为积分球或光敏二极管。

优选地，所述承载台连接一带动承载台沿X轴或Y轴或Z轴移动或绕预定轴线转动的运行机构。

优选地，还包括电控机构，电控机构用于按预定的控制策略将电源装置的电信号逐个供给至指定的探针组。

优选地，所述电控机构包括用于将探针组与电源装置连接的电路以及与电路电性连接的控制器。

优选地，所述控制器包括：

输入单元，用于设置预定的时间间隔以及设定探针组的指定策略；

时钟单元，用于按预定的时间间隔发出工作信号；

寻址单元，用于按探针组的指定策略查找指定的探针组所在的位置并发出位置信号；

处理单元，根据工作信号及位置信号将电源装置的电信号供给至指定的探针组。

本发明的利用前述的LED快速点测装置的点测方法，包括如下步骤：

1）移动装有多个LED芯片的承载台或探针卡，使探针卡上的一行探针组同时接触一行LED芯片的电极，多个探针组中的第一探针和第二探针分别电性连接一行LED芯片的P电极和N电极；

2）使采光模块与探针卡及承载台发生相对位移，电源装置按预定的时间间隔向指定的探针组通入电信号，与指定的探针组接触的LED芯片被点亮且位于采光模块的正下方；