[发明专利]通过超声表面波检测材料氢损伤的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310111980.8 申请日: 2013-04-02
公开(公告)号: CN103245726A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 陈建钧;潘红良;阚文彬;李勇锋;阎玉溪;王晶;杜文慧;曹歌 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽;曾人泉
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 通过 超声 表面波 检测 材料 损伤 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种通过超声表面波检测材料氢损伤的装置, 其特征在于,包含高频超声表面波发射、接收系统和便携式工控机(13);所述高频超声表面波发射接收系统包括高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)、基板(3)、导轨(4)和定位螺母(5),所述高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)设置在基板(3)中间的导轨(4)上,由定位螺母(5)卡位固定,所述基板(3)放置在待测设备或材料(01)上;所述便携式工控机(13)包括数据采集模块(6)、发射模块(7)、信号处理模块(8)、功率放大模块(9)、 A/D转换模块(10)、信号发生模块(11)、软件控制平台(12)及其连接线,所述软件控制平台(12)通过信号发生模块(11)、功率放大模块(9)、发射模块(7)向高频超声表面波发射探头(1)输出信号,发射模块(7)的输出与高频超声表面波发射探头(1)的输入端相连;所述高频超声表面波接收探头(2)的输出与所述数据采集模块(6)的输入端相连,所述数据采集模块(6)自高频超声表面波接收探头(2)接收的信号通过信号处理模块(8)、A/D转换模块(10)将处理的信号输入软件控制平台(12),由便携式工控机(13)进行操作与控制。

2. 根据权利要求1所述的通过超声表面波检测材料氢损伤的装置,其特征在于,所述高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)设置在基板(3)中间同一个导轨(4)上,由不同的定位螺母(5)固定它们彼此在同一个导轨(4)上的距离。

3. 根据权利要求1所述的通过超声表面波检测材料氢损伤的装置,其特征在于,所述高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)设置在基板(3)中间不同的导轨上,由不同的定位螺母(5)固定它们在不同导轨上的距离。

4. 根据权利要求1所述的通过超声表面波检测材料氢损伤的装置,其特征在于,所述高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)都与楔块相配合,从而产生由纵波到表面波的波形模式转换。

5. 一种通过超声表面波检测材料氢损伤的方法,其特征在于,包含以下步骤:

(1)检测装置的应用

将高频超声表面波发射探头(1)、高频超声表面波接收探头(2)设置在基板(3)中间的导轨(4)上,用定位螺母(5)固定好位置,控制好所述发射探头与接收探头的检测距离,在所述发射探头(1)与接收探头(2)上涂上耦合剂,将所述基板(3)贴置在待测设备或材料(01)上;

(2)软件控制平台(12)的设置

在软件控制平台(12)中设置基于USPC-3100超声数据采集卡编写的Labview数据处理软件,用所述软件设定发射信号的频率、激励频率、增益、探头收发模式的参数,然后,由软件控制平台(12)触发信号脉冲;

(3)产生超声表面波

软件控制平台(12)触发的信号通过信号发生模块(11)、功率放大模块(9)、发射模块(7)和高频超声表面波发射探头(1)引发纵波模式,通过表面波楔块导致波的模式转换,从而产生在待测设备或材料(01)表面传播的超声波、即超声表面波;

(4)超声表面波的传播与信号的转换

步骤(3)产生的超声表面波在待测设备或材料(01)上沿着所述导轨(4)方向传播一段距离后,到达高频超声表面波接收探头(2),此时,机械振动信号转换成电压信号,所述电压信号再由数据采集模块(6)对所截取的电压信号进行采集、并由信号处理模块8进行处理数据处理,得到模拟信号;

(5)电压信号转换数字信号

步骤(4)所述的电压信号由数据采集模块(6)、信号处理模块(8)进行处理后,再由A/D转换模块(10)变成数字信号,所述数字信号进入软件控制平台(12);

(6)检测设备或材料的氢损伤程度

由软件控制平台(12)中的交互式Labview数据处理软件对步骤(5)的数字信号进行分析处理,即可检测或判断待测设备或材料(01)的氢损伤程度;所述软件控制平台(12)受便携式工控机(13)的操作与控制。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东理工大学,未经华东理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310111980.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top