[发明专利]检测电路、传感器器件以及电子设备

权利要求书

1.一种检测电路，其特征在于，该检测电路具备：

热电元件；

源极跟随电路，其包含栅极被输入来自所述热电元件的检测信号的晶体管；

第1开关元件，其切断流向所述晶体管的电流；以及

第2开关元件，其切断所述热电元件与所述晶体管的栅极的连接。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

在所述第1开关元件解除流向所述晶体管的电流的切断之前，所述第2开关元件切断所述热电元件与所述晶体管的栅极的连接。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，

该检测电路还具有放电开关，该放电开关释放将所述第2开关元件与所述晶体管的栅极连接起来的布线的电荷。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，

在所述第1开关元件解除了流向所述晶体管的电流的切断之后，且在所述第2开关元件解除所述热电元件与所述晶体管的栅极的连接的切断之前，结束所述放电开关的放电。

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，

在所述第2开关元件解除所述栅极与所述热电元件的连接之前，所述放电开关开始放电动作。

6.根据权利要求1～5中任意一项所述的检测电路，其特征在于，

所述源极跟随电路具有：

第1P型晶体管，其设置在所述检测电路的输出节点与低电位电源节点之间，栅极被输入来自所述热电元件的检测信号；以及

第2P型晶体管，其设置在高电位电源节点与所述输出节点之间，栅极被设定为基准电压。

7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，

该检测电路还设置有基准电压产生电路，该基准电压产生电路向所述第2P型晶体管的栅极提供所述基准电压，

所述基准电压产生电路具有串联连接在所述高电位电源节点与所述低电位电源节点之间的第3P型晶体管和第4P型晶体管，

漏极和所述低电位电源节点连接的所述第3P型晶体管的源极、与源极和所述高电位电源节点连接的所述第4P型晶体管的漏极之间的连接节点作为所述基准电压产生电路的输出节点，

所述第3P型晶体管的栅极与所述低电位电源节点连接，

所述第4P型晶体管的栅极与所述基准电压产生电路的输出节点连接。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，

所述第1开关元件是切断流向所述第1P型晶体管以及所述第2P型晶体管的电流的第5P型晶体管，

所述基准电压产生电路具有切断流向所述第3P型晶体管以及所述第4P型晶体管的电流的第6P型晶体管，

所述第5P型晶体管以及所述第6P型晶体管的栅极被提供同一信号。

9.一种传感器器件，其特征在于，

该传感器器件包含权利要求1～8中任意一项所述的检测电路。

10.一种传感器器件，其特征在于，

该传感器器件具有：

多个行线；

多个列线；以及

多个像素电路，它们与所述多个行线和所述多个列线中的各1根连接，

所述多个像素电路分别包含：

热电元件；

源极跟随电路，其包含栅极被输入来自所述热电元件的检测信号的晶体管；

第1开关元件，其切断流向所述晶体管的电流；以及

第2开关元件，其在所述第1开关元件切断流向所述晶体管的电流之前，将所述热电元件与所述晶体管的栅极之间切断；

像素选择开关，其在驱动所述多个行线中的1根的期间，对所述多个列线中的1根提供基于所述热电元件的电荷变化的信号；以及

放电开关，其释放将所述第2开关元件与所述晶体管的栅极连接起来的布线的电荷，

在与所驱动的所述1根行线连接的像素电路中，在所述第1开关元件解除了流向所述晶体管的电流的切断之后，且在所述第2开关元件解除所述热电元件与所述晶体管的栅极的连接的切断之前，结束所述放电开关的放电。

11.根据权利要求10所述的传感器器件，其特征在于，

与所述1根行线连接的像素电路共用所述第1开关元件。

12.一种电子设备，其特征在于，

该电子设备包含权利要求1～8中任意一项所述的检测电路。

13.一种电子设备，其特征在于，

该电子设备包含权利要求9～11中任意一项所述的传感器器件。