[发明专利]一种晶振测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路领域，具体涉及一种晶振测试电路。

背景技术

目前晶振在电子电路中应用广泛，如单片机、数字信号处理器、时钟芯片等都需要晶振来产生时基，如果晶振出现故障则这些芯片都无法正常工作。鉴于晶振的重要性，在晶振被焊接至电路上之前就需要先确认所用的晶振性能是否正常，避免性能异常的晶振焊接至电路后，电路无法正常工作，从而需要进行逐一的故障排查，并在确定出晶振故障后重新更换晶振所造成的人力和物力的浪费。

发明内容

本发明实施例提供了一种晶振测试电路，能够有效筛选出性能异常的晶振从而避免性能异常的晶振被焊接到电子电路上后，后续由于故障排查和元件更换所造成的人力和物力的浪费。

本发明提供的晶振测试电路，包括起振电路、信号放大电路和转换电路，其中：

所述起振电路用于使被测晶振起振，所述起振电路的两个测试端分别连接被测晶振的两个引脚，所述起振电路的输出端在所述被测晶振起振后输出所述被测晶振的振荡信号；

所述信号放大电路的输入端连接至所述起振电路的输出端，所述信号放大电路用于放大所述起振电路输出的所述振荡信号，放大后的振荡信号通过所述信号放大电路的输出端输出；

所述转换电路的输入端连接至所述信号放大电路的输出端，所述转换电路用于将所述放大后的振荡信号转换为光信号或者声音信号。

可选地，所述起振电路包括第一电阻、第一电容和第二电容，其中，

所述第一电阻的第一端连接至供电电源，所述第一电阻的第二端连接至所述第一电容的第一端，所述第一电容的第一端作为所述起振电路的一个测试端，所述第一电容的第一端同时作为所述起振电路的输出端，所述第一电容的第二端连接至所述第二电容的第一端，所述第二电容的第二端连接至接地点，所述第二电容的第二端作为所述起振电路的另一个测试端。

可选地，所述信号放大电路包括三极管、第二电阻、第三电容、第一二极管和第二二极管，其中，

所述三极管的集电极连接至供电电源，所述三极管的基极作为所述信号放大电路的输入端连接至第一电容的第一端，所述三极管的发射极连接至所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端连接到接地点，所述第三电容的第一端连接至所述三极管的发射极，所述第三电容的第二端连接至所述第一二极管的阳极，所述第一二极管的阴极作为所述信号放大电路的输出端，所述第二二极管的阴极连接至所述第三电容的第二端，所述第二二极管的阳极连接至接地点。

可选地，所述转换电路为发光二极管，其中，所述发光二极管的阳极作为所述转换电路的输入端连接至所述第一二极管的阴极，所述发光二极管的阴极连接至接地点。

可选地，所述转换电路为蜂鸣器，其中，所述蜂鸣器的第一端作为所述转换电路的输入端连接至所述第一二极管的阴极，所述蜂鸣器的第二端连接至接地点。

本发明中起振电路为被测晶振提供起振条件，信号放大电路将被测晶振的振荡信号进行放大，并用放大后的振荡信号驱动提示电路进行声音或者光信号提示。由于性能正常的被测晶振能够正常起振，因此当提示电路光信号为闪烁，或者声音信号为重复间歇的鸣叫时则说明被测晶振正常，提示电路光信号为不亮，或者没有声音信号时则说明被测晶振性能异常。本发明提供的电路能够高效、简单的对晶振的性能进行测试，电路简单且可靠性高，本发明能预先筛选出性能异常的晶振，有效避免性能异常的晶振被焊接到电子电路上后，由于后续故障排查和元件更换所造成的人力和物力的浪费。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种晶振测试电路的电路图；

图2是本发明实施例提供的另一种晶振测试电路的电路图；

图3是本发明实施例提供的再一种晶振测试电路的电路图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，图1是本发明实施例提供的一种晶振测试电路的电路图，包括起振电路101、信号放大电路102和转换电路103，其中：