[发明专利]开关电源中光电耦合器退化监测方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310092265.4 申请日: 2013-03-21
公开(公告)号: CN103197260A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 李梦奇;史峥宇;陆裕东;冯敬东;孔学东;王晓晗;恩云飞;黄云 申请(专利权)人: 工业和信息化部电子第五研究所
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王茹;曾旻辉
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 开关电源 光电 耦合器 退化 监测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,包括如下步骤:

对开关电源输出端负载施加电流脉冲信号,获取所述开关电源的响应信号;

将所述响应信号放大后整形为方波脉冲序列;

读取所述方波脉冲序列中的方波脉冲个数,通过所述方波脉冲个数判断光电耦合器是否退化。

2.根据权利要求1所述的开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,在所述将所述响应信号放大的步骤后,还包括通过稳压电路控制所述响应信号的最大电压低于预设的电压阈值的步骤。

3.根据权利要求1所述的开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,在所述将所述响应信号放大的步骤前,还包括对所述响应信号进行直流隔离的步骤。

4.根据权利要求1或3所述的开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,在所述将所述响应信号放大的步骤前,还包括对所述响应信号进行滤波的步骤。

5.根据权利要求1所述的开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,所述通过所述方波脉冲个数判断光电耦合器是否退化的步骤具体为:

若当前读取的所述方波脉冲个数小于上一次采样读取的方波脉冲个数,则判断所述光电耦合器退化。

6.一种开关电源中光电耦合器退化监测装置,其特征在于,包括脉冲发生器、信号放大电路、整形电路、计数器和处理器;

所述脉冲发生器和信号放大电路分别与开关电源的输出端连接,所述信号放大电路、整形电路、计数器和处理器依次连接;

所述脉冲发生器用于对开关电源输出端负载施加电流脉冲信号;

所述信号放大电路用于获取所述开关电源的响应信号,将所述响应信号进行放大;

所述整形电路用于将放大后的响应信号整形为方波脉冲序列;

所述计数器用于读取所述方波脉冲序列中的方波脉冲个数;

所述处理器用于通过所述方波脉冲个数判断光电耦合器是否退化。

7.根据权利要求6所述的开关电源中光电耦合器退化监测装置,其特征在于,所述放大电路中包括稳压电路,用于控制所述响应信号的最大电压低于预设的电压阈值。

8.根据权利要求6所述的开关电源中光电耦合器退化监测装置,其特征在于,所述放大电路中包括隔离电容,用于对所述响应信号进行直流隔离。

9.根据权利要求6或8所述的开关电源中光电耦合器退化监测装置,其特征在于,所述放大电路中包括滤波电容,用于对所述响应信号进行滤波。

10.根据权利要求6所述的开关电源中光电耦合器退化监测装置,其特征在于,所述控制器还用于:若当前读取的所述方波脉冲个数小于上一次采样读取的方波脉冲个数,则判断所述光电耦合器退化。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于工业和信息化部电子第五研究所,未经工业和信息化部电子第五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310092265.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top