[发明专利]一种集成电路仿真波形比较方法在审
| 申请号： | 201310091075.0 | 申请日： | 2013-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN104063526A | 公开（公告）日： | 2014-09-24 |
| 发明（设计）人： | 宋德强;吴跃波;郭根华;张卫卫;陈一虹 | 申请（专利权）人： | 北京华大九天软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100102 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 仿真 波形 比较 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种适用于集成电路仿真工具中的波形比较方法，其技术特征在于以下流程：①读入待比较波形和比较参数；②判断比较类型；③如果是时间偏移比较，划分比较域；④如果是点对点比较，设置这个时间轴为比较域；⑤根据偏移值将比较波形的边沿对齐；⑥在相应比较域上进行点对点比较。
2.根据权利要求1所述的波形比较点对点比较方法，其特征在于：①首先在波形的每个数据点上建立容限窗；②然后检查另一条波形是否穿过该窗，从而判断两条波形相差是否在一定的容限范围之内。
3.根据权利要求1所述的时间偏移比较方法，其技术特征包含以下两个方面：①首先根据标识信号将两个比较信号划分成不同的比较域；②其次，在每个比较域上对齐比较信号；③最后，在不同比较域上调用点对点波形比较，生成比较结果。
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