[发明专利]一种频率器件老化率测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种频率器件老化率测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有一计算机（10）、一频率计（20）、一铷原子频率源（30）及多层测试架，每层测试架上设有一器件测试板（40）及一测试控制板（50），所述器件测试板（40）包括有多个器件座（400），所述测试控制板（50）各自具有唯一的地址码，其中，

所述铷原子频率源（30）发送标准频率的振荡信号至频率计（20）的标准频率信号端口，频率计（20）以该振荡信号的频率作为参考频率;

每个测试控制板（50）包括有一4514译码器（500）及多个选通开关（501），所述计算机（10）发送选位指令至4514译码器（500）的选位端，4514译码器（500）的多个输出端分别连接于多个选通开关（501）的控制端，多个器件座（400）的输出端分别连接于多个选通开关（501）的输入端，多个选通开关（501）的输出端相互连接后再连接至频率计（20）的输入端，频率计（20）将测试结果以电信号的形式发送至计算机（10）。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一直流电源（60），所述直流电源（60）输出直流电压为器件座（400）供电，该直流电压是0V～30V连续可调电压，所述直流电源（60）还输出5V直流电压为测试控制板（50）供电。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试架的层数是6层。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每个器件测试板（40）上设有16个器件座（400），每个测试控制板（50）包括有16个选通开关（501）。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一扩展板，多个测试控制板（50）分别通过IDC40而连接至扩展板，之后再通过DB25接口而转接至计算机（10）的并口端。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述频率计（20）通过GPIB接口而连接至计算机（10）。

7.一种频率器件老化率测试方法，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤：

步骤S101，在计算机（10）上设置参数，所述参数包括频率器件在测试前的上电工作时长、取样天数和每日取样次数，计算机（10）根据取样天数和每日取样次数得出取样时刻；

步骤S102，频率器件按预设时长上电工作，且达到稳定工作状态；

步骤S103，计算机（10）将选位指令发送至测试控制板（50），以令多个器件座（400）上多个频率器件之一的频率信号输出至频率计（20）；

步骤S104，频率计（20）将测试结果反馈回计算机（10），并由计算机（10）保存至数据库；

步骤S105，计算机（10）输出下一频率器件所对应的选位指令，重复步骤S103至步骤S104，直至器件测试板（40）内的多个频率器件全部测试完成；

步骤S106，计算机（10）开始计时，直至下一取样时刻；

步骤S107，重复步骤S103至步骤S106，直至多个频率器件在全部取样时刻的测试工作完成；

步骤S108，计算机（10）利用最小二乘法计算出每个频率器件的老化率K，计算公式为：

K=nΣi=1N(fi-f‾)(ti-t‾)f0Σi=1N(ti-t‾)2;]]>

f‾=1NΣi=1Nfi;]]>

t‾=1NΣi=1Nti;]]>

上式中，

n为每日取样次数；

N为取样个数；

fi为ti时刻测试的频率值；

ti为取样时刻；

计算之后，将每个频率器件的频率数据和老化率K保存至数据库。