[发明专利]一种高压电器用绝缘支撑件抗电老化性能分析方法无效
申请号: | 201310080679.5 | 申请日: | 2013-03-14 |
公开(公告)号: | CN103197207A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 晏年平;于钦学;曹淳枫;任挺;钟力生 | 申请(专利权)人: | 江西省电力科学研究院;西安交通大学;国家电网公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 南昌市平凡知识产权代理事务所 36122 | 代理人: | 姚伯川 |
地址: | 330008 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高压电 器用 绝缘 支撑 件抗电 老化 性能 分析 方法 | ||
1.一种绝缘支撑件抗电老化性能分析方法,其特征在于,所述方法在模拟的绝缘支撑件实际工作环境中,将正常及存在不同缺陷的绝缘支撑件分组进行电老化试验,以30-40天为一个完整电老化时段;时段内以5天为一个周期,每个周期内测试得到绝缘支撑件的局部放电特性;绝缘支撑件的介质损耗因数和泄露电流;SF6气体分解产物及含量;然后综合分析以上数据,得到各项参数与电老化时间的相关性,从而判断出绝缘支撑件不同时期下的老化程度,推断出绝缘支撑件的抗电老化性能。
2.根据权利要求1所述的绝缘支撑件抗电老化性能分析方法,其特征在于,所述模拟的绝缘支撑件实际工作环境,采用与运行状况相同的试验环境,包括压力、温度,以及电场强度,能模拟实际运行高压电器设备中的绝缘支撑件老化过程。
3.根据权利要求1所述的绝缘支撑件抗电老化性能分析方法,其特征在于,所述绝缘支撑件的局部放电特性包括放电量-放电相位分布特性Q-φ,放电次数放电相位分布特性n-φ,放电量-放电次数-放电相位分布特性Q-φ-n,以及上述三个分布图谱的偏斜度Sk、峭度Ku、局部峰个数Pe参数。
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