[发明专利]一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法无效
申请号: | 201310059207.1 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN103149512A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 蔡炜;陈磊;邓鹤鸣;周仿荣;邓慰;马仪;徐肖伟;张恭源 | 申请(专利权)人: | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司;云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院;国家电网公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 潘杰 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 紫外 成像 特征 绝缘子 绝缘 状态 评估 方法 | ||
技术领域
本发明涉及输变电设备所用绝缘子绝缘状况测评领域,具体地指一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法。
背景技术
输变电设备的外绝缘性能对电网运行安全具有重大影响。电力系统中大量使用的绝缘子,其表面污染并受潮将严重影响绝缘子的电气特性,危及电网的运行安全。随着全国范围区域性电网大面积污闪事故的发生,给电力部门造成了巨大的经济损失,并且造成了不好的社会影响,因此各大电网针对输变电设备外绝缘性能进行了大规模的防污闪改造,使运行线路的绝缘水平得到提高。但是,随着电网容量、输电电压等级的提高,特别是空气环境的进一步恶化,电网防污闪工作形势依然十分严峻。
目前运用紫外成像技术进行绝缘子绝缘状态评估主要是基于紫外成像特征-光子数,而光子数可直接从紫外成像仪中读取,但紫外成像仪给出的光子数是某个成像区域内的光子数之和,当绝缘子所在区域存在多个相邻的放电点时,光子数不能通过光子数来正确区分出绝缘子放电量的大小,存在较大的统计误差。
发明内容
本发明的目的是为了克服上述不足提供一种准确度高的基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法,包括以下具体步骤:
步骤1:利用日盲型紫外成像仪采集在线绝缘子的放电数据和图像;
步骤2:将步骤1中采集得到的绝缘子放电数据和图像导入计算机系统;
步骤3:对步骤2中导入计算机系统的绝缘子放电数据和图像进行去噪预处理,得到绝缘子放电紫外检测图片;
步骤4:在步骤3中得到的绝缘子放电紫外检测图片上选取绝缘子放电光斑最大的区域,获取最大光斑面积直径Duv和绝缘子本体的伞裙直径Dil,定义相对光斑直径RD=Duv/Dil并计算出相对光斑直径RD数值;
步骤5:在所述绝缘子的放电数据中选取施加在绝缘子上的实际的电压值U和绝缘子闪络时所对应的电压值Uf,定义绝缘子的相对闪络强度RF=U/Uf并计算出绝缘子的相对闪络强度RF数值;
步骤6:根据上述相对闪络强度RF和相对光斑直径RD所处的数值范围,通过查询判断绝缘状态“好”、“较好”、“差”或“很差”;
步骤7:若绝缘子的绝缘状态处于“好”或“较好”的状态时,无需预警;若绝缘子的绝缘状态处于“较差”时,需要预警;若绝缘子的绝缘状态处于“很差”状态时,马上报警,采取相应的措施,以防止污闪事故的发生。
本发明的有益效果是基于紫外成像特征—“相对光斑直径”的绝缘子绝缘状态评方法,克服了光子数参数在实际运用中存在一定的不足,避免了因检测的距离和仪器的增益对评估结果造成的不利影响,提高了绝缘子绝缘状态评估的准确性。
附图说明
图1为本发明的方法流程图;
图2为绝缘子结构示意图;
图3为绝缘子绝缘状态评估示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例进一步说明本发明。
实施例:本发明所述一种基于紫外成像特征的绝缘子绝缘状态评估方法,包括以下具体步骤:
步骤1:利用日盲型紫外成像仪采集在线绝缘子的放电数据和图像;
步骤2:将步骤1中采集得到的绝缘子放电数据和图像导入计算机系统;
步骤3:对步骤2中导入计算机系统的绝缘子放电数据和图像进行去噪预处理,得到绝缘子放电紫外检测图片;
步骤4:在步骤3中得到的绝缘子放电紫外检测图片上选取绝缘子放电光斑最大的区域,获取最大光斑面积直径Duv=5cm和绝缘子本体的伞裙直径Dil=10cm,定义相对光斑直径RD=Duv/Dil,经计算相对光斑直径RD=0.5。
步骤5:在所述绝缘子的放电数据中选取施加在绝缘子上的实际的电压值U=8kV和绝缘子闪络时所对应的电压值Uf=37kV,定义绝缘子的相对闪络强度RF=U/Uf,经计算得到绝缘子的相对闪络强度RF为22% 。
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