[发明专利]存储装置的容量检测方法有效
申请号: | 201310058540.0 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN103116536A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 付建云;麻伟建;杨春华 | 申请(专利权)人: | 杭州华澜微科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 | 代理人: | 王爱伟 |
地址: | 311202 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 装置 容量 检测 方法 | ||
1.一种存储装置的容量检测方法,其特征在于,其包括:
将不同的源数据写入所述存储装置的多个目标地址,其中各个目标地址中写入的源数据均互不相同;
从所述存储装置的各个目标地址中读取数据,将从每个目标地址中读取的数据与写入对应目标地址的数据进行对比以确定它们是否一致,如果读取的数据与写入的数据不都一致,则认为所述存储装置的容量不真实。
2.根据权利要求1所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,如果读取的数据与写入的数据都一致,则继续进行如下操作:
步骤A,将所述存储装置二分得到两个待分析存储区;
步骤B,从每个待分析存储区的一个地址处读取数据,将从每个待分析存储区中读取的数据与所有的源数据逐一进行对比,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据中的一个相同的待分析存储区称为映射存储区,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据都不相同的待分析存储区称为准真实存储区,如果此次对比发现有映射存储区,则认为所述存储装置的容量不真实,如果此次对比没有发现有映射存储区,则进入步骤C;
步骤C,判断是否是连续N次判定没有映射存储区,若是,则认为所述存储装置的容量是真实的,若否,则继续对每个准真实存储区再次二分得到多个待分析存储区,并返回步骤B,N大于等于1。
3.根据权利要求1所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,如果读取的数据与写入的数据都一致,则继续进行如下操作:
步骤A,将所述存储装置二分得到两个待分析存储区;
步骤B,从每个待分析存储区的一个地址处读取数据,将从每个待分析存储区中读取的数据与所有的源数据逐一进行对比,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据中的一个相同的待分析存储区称为映射存储区,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据都不相同的待分析存储区称为准真实存储区,如果此次对比发现有映射存储区,则认为所述存储装置的容量不真实,进入步骤D,如果此次对比没有发现有映射存储区,则进入步骤C;
步骤C,判断是否是连续N次判定没有映射存储区,若是,则根据所述准真实存储区的容量确定所述存储装置的真实容量,若否,则继续对每个准真实存储区再次二分得到多个待分析存储区,并返回步骤B,N大于等于1;
步骤D,继续对对每个准真实存储区再次二分得到多个待分析存储区,并返回步骤B。
4.根据权利要求2或3所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,从各个待分析存储区读取数据的地址与各个目标地址不同。
5.根据权利要求2或3所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,如果从一个待分析存储区读取数据的地址与所述目标地址中的一个相同,则在步骤B中认为从该待分析存储区为准真实存取区。
6.根据权利要求1-3任一所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,所述容量检测还包括:
在由于有互相对应的数据不都一致而认为所述存储装置的容量不真实后,继续确定有哪些互相对应的数据一致,根据一致的那些互相对应的数据对应的目标地址判定所述存储装置的容量。
7.根据权利要求2-3任一所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,从每个待分析存储区读取数据的地址位于对应待分析存储区的中间,
各个目标地址之间的容量间距是相同的,
所述容量间距与所述存储装置的容量有关,所述存储装置的容量越大,所述容量间距越大。
8.根据权利要求2-3任一所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,在每个目标地址处写入的源数据包括生产商信息、写次数和随机数。
9.根据权利要求2-3任一所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,在每个目标地址处写入的源数据的大小小于等于从每个待分析存储区中读取的数据的大小。
10.根据权利要求2-3任一所述的存储装置的容量检测方法,其特征在于,所述存储装置中的存储介质为闪存。
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