[发明专利]一种直流与低频磁信号测试装置的脉冲激励电路有效

专利信息
申请号: 201310055314.7 申请日: 2013-02-17
公开(公告)号: CN103178780A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 曹宜 申请(专利权)人: 曹宜
主分类号: H03B5/08 分类号: H03B5/08;G01R33/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430072 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 直流 低频 信号 测试 装置 脉冲 激励 电路
【权利要求书】:

1.一种直流与低频磁信号测试装置的脉冲激励电路,其特征在于,包括时序控制器、与时序控制器连接的第一半桥单元、与第一半桥单元连接的探头激励线圈单元、以及分别与探头激励线圈单元和时序控制器连接的第二半桥单元。

2.根据权利要求1所述的一种直流与低频磁信号测试装置的脉冲激励电路,其特征在于,所述的第一半桥单元包括三极管P1、三极管P2;所述第二半桥单元包括三极管P3和三极管P4;所述探头激励线圈单元包括第一单向元件A1、第二单向元件A2、电容C1、磁探头激励线圈M1以及电容C2;

所述时序控制器的CK1端连接第一半桥单元中的三极管P1的栅极,时序控制器的CK2端连接第一半桥单元中的三极管P2的栅极,时序控制器的CK3端连接第二半桥单元中的三极管P3的栅极,时序控制器的CK4端连接第二半桥单元中的三极管P4的栅极,三极管P1和三极管P2的漏极分别连接第一单向元件A1和第二单向元件A2,第一单向元件A1和第二单向元件A2的结合点连接电容C1,电容C1连接磁探头激励线圈M1,磁探头激励线圈M1连接第二半桥单元中的三极管P3和三极管P4的漏极结合点,电容C2与磁探头激励线圈M1并联。

3.根据权利要求1所述的一种直流与低频磁信号测试装置的激励脉冲电路,其特征在于,所述的第一半桥单元包括三极管P5、三极管P6;所述第二半桥单元包括三极管P7和三极管P8;所述探头激励线圈单元包括一个电容C3、磁探头激励线圈M2以及电容C4;

所述时序控制器的CK1端连接第一半桥单元中的三极管P5的栅极,时序控制器的CK2端连接第一半桥单元中的三极管P6的栅极,时序控制器的CK3端连接第二半桥单元中的三极管P7的栅极,时序控制器的CK4端连接第二半桥单元中的三极管P8的栅极,三极管P5和三极管P6漏极的结合点连接电容C3,电容C3连接磁探头激励线圈M2,磁探头激励线圈M2连接第二半桥单元中的三极管P7和三极管P8的漏极结合点,电容C4与磁探头激励线圈M2并联。

4.根据权利要求1所述的一种直流与低频磁信号测试装置的激励脉冲电路,其特征在于,所述的第一半桥单元包括三极管P9、三极管P10;所述第二半桥单元包括三极管P11和三极管P12;所述探头激励线圈单元包括第三单向元件A3、第四单向元件A4、电容C5、磁探头激励线圈M3;

所述时序控制器(1)的CK1端连接第一半桥单元中的三极管P9的栅极,时序控制器(1)的CK2端连接第一半桥单元中的三极管P10的栅极,时序控制器(1)的CK3端连接第二半桥单元中的三极管P11的栅极,时序控制器(1)的CK4端连接第二半桥单元中的三极管P12的栅极,三极管P9和三极管P10的漏极分别连接第三单向元件A3和第四单向元件A4,第三单向元件A3和第四单向元件A4的结合点连接电容C5,电容C5连接磁探头激励线圈M3,磁探头激励线圈M3连接第二半桥单元中的三极管P11和三极管P12的漏极结合点。

5.一种应用权利要求2所述的激励电路的激励电流控制方法,包括以下步骤:

步骤1,时序控制器(1)的CK3端跳变为逻辑电平“1”,三极管P3断开,时序控制器(1)的CK4端跳变为逻辑电平“1”,三极管P4导通;

步骤2,时序控制器(1)的CK1端跳变为逻辑电平“0”,三极管P1导通,经过时间Ton后,时序控制器(1)的CK1端跳变为逻辑电平“1”,三极管P1断开;

步骤3,时序控制器(1)的CK4端跳变为逻辑电平“0”,三极管P4断开,时序控制器(1)的CK3端跳变为逻辑电平“0”,三极管P3导通;

步骤4,时序控制器(1)的CK2端跳变为逻辑电平“1”,三极管P2导通,经过时间Ton后,时序控制器(1)的CK2端跳变为逻辑电平“0”,三极管P2断开;

步骤5,重复上述步骤。

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