[发明专利]硬币识别用磁传感器

说明书

技术领域

本发明涉及用于测量在硬币识别中利用的硬币的磁特性的硬币识别用磁传感器。

背景技术

以往，在进行硬币的识别计数的硬币处理装置中，利用用于测量硬币的磁特性的硬币识别用磁传感器。测量硬币的磁特性，例如确定硬币的厚度、直径和材质，从而进行现金种类识别和真伪识别。

例如，在专利文献1中，公开了利用三个线圈构成的透过型的硬币识别用磁传感器。在该传感器中，在输送路径下方配置一个激磁线圈，在输送路径上输送的硬币上方与激磁线圈对应的位置配置两个检测线圈。于是，通过检测线圈检测硬币通过由激磁线圈所激磁的磁场内而产生的磁通的变化。

而且，在专利文献2中公开了测量利用了五个线圈的透过型和反射型的两者的磁场变化的硬币识别用磁传感器。在该传感器中，反射型的激磁线圈（初级线圈）和检测线圈（次级线圈）、两个透过型的激磁线圈（初级线圈）被配置在输送路径下方，在输送路径上输送的硬币上方与透过型激磁线圈对应的位置配置两个透过型的检测线圈（次级线圈）。于是，除了进行透过磁场的变化的检测，还通过反射型检测线圈检测由于在通过反射型激磁线圈激磁的硬币中产生涡电流而引起的磁通的变化。

专利文献1：（日本）特开平7-220133号公报

专利文献2：（日本）特许第3363290号公报

但是，按照上述现有技术，存在由于构成硬币识别用磁传感器的各个部件的制造误差、和利用多个线圈组装磁传感器时的组装误差而在传感器特性中产生变异性（ばらつき）的情况。

例如，硬币识别用磁传感器在树脂制的传感器盒内配置组装透过型激磁线圈、透过型检测线圈、反射型激磁线圈和反射型检测线圈、用于处理从激磁线圈的驱动和检测线圈得到的信号的电路基板等。这时，存在由于各个部件的制造误差和将各个线圈组装到传感器盒时的组装误差，各个线圈的位置产生偏移的情况。

具体来说，存在激磁线圈和检测线圈的位置关系、在输送路径上方并列设置的两个透过型线圈的位置关系、透过型线圈和反射型线圈的位置关系等偏移的可能性。其结果，存在在传感器特性中产生变异性，传感器性能降低的情况。

而且，线圈是将绝缘线作为绕线将其缠绕在由磁性材料构成的磁芯上而形成的，但是在多个磁芯上缠绕绕线，进而将各个线圈组装到传感器盒内而制造硬币识别用磁传感器的作业是花费时间的作业。而且，将形成各个线圈的绕线的两端焊接在配置于传感器盒内的电路基板上的作业也同样是花费时间的作业。因此，硬币识别用磁传感器的制造花费时间和成本。

发明内容

本发明是为了解决上述的现有技术的问题点而完成的，其目的在于提供一种容易制造且能够抑制因各个线圈的位置关系的变异性引起的传感器性能的降低的硬币识别用磁传感器。

为了解决上述课题，达到目的，本发明为硬币识别用磁传感器，其特征在于，包括：磁性材料制板状体的磁芯板，具有识别对象的硬币通过的开口部和朝向该开口部突出的多个凸部；以及多个线圈，设置在通过所述开口部的硬币的上方和下方，全部所述线圈以所述磁芯板的凸部为磁芯而形成。

而且，本发明的特征是，在上述发明中，利用以夹着空隙对置的所述凸部为磁芯的所述线圈来形成至少一个透过型磁传感器，包含该透过型磁传感器的磁路形成闭环。

而且，本发明的特征是，在上述发明中，在所述磁芯板上，在通过所述开口部的硬币的上方形成两个凸部，在所述硬币的下方形成三个凸部，所述线圈包括：以硬币上方的两个所述凸部分别作为磁芯缠绕绕线的两个透过型检测线圈；以硬币下方的三个所述凸部中的中央的凸部作为磁芯缠绕绕线的反射型检测线圈；以及以硬币下方的三个所述凸部为磁芯缠绕绕线，以便将全部三个所述凸部包含在内侧的激磁线圈。

而且，本发明的特征是，在上述发明中，还包括：树脂制筒型形状的上侧线圈用线圈骨架，具有使硬币上方的所述凸部贯通的贯通孔，所述透过型检测线圈是在处于硬币上方的所述凸部贯通了所述贯通孔的状态下的所述上侧线圈用线圈骨架上缠绕绕线而形成的。

而且，本发明的特征是，在上述发明中，还包括：树脂制的下侧线圈用线圈骨架，具有使硬币下方的三个所述凸部贯通的贯通孔，所述反射型检测线圈和所述激磁线圈是在处于硬币下方的三个所述凸部贯通了所述贯通孔的状态下的所述下侧线圈用线圈骨架上缠绕绕线而形成的。

而且，本发明的特征是，在上述发明中，所述下侧线圈用线圈骨架具有侧面凸型形状，所述反射型检测线圈通过在所述侧面凸型形状的中央突出部分缠绕绕线而形成，所述激磁线圈通过在所述侧面凸型形状的下侧部分缠绕绕线而形成。