[发明专利]一种大范围高精度的面形检测装置及其检测方法无效

专利信息
申请号: 201310044110.3 申请日: 2013-02-01
公开(公告)号: CN103134445A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 田爱玲;刘剑;王红军;刘丙才;朱学亮;王春慧 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 范围 高精度 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种大范围高精度的面形检测装置,包括激光光源(1)、扩束镜(2)、准直镜(3)、分光镜(4)、标准参考镜(5)、CCD相机(8)、图像采集系统(9)和计算机(10),所述激光光源(1)、扩束镜(2)、准直镜(3)和分光镜(4)共光路设置,标准参考镜(5)设置于分光镜(4)的反射光路中,所述CCD相机(8)与图像采集系统(9)连接,图像采集系统(9)和激光光源(1)均与计算机(10)连接,其特征在于:所述激光光源(1)为可连续变频的变频激光器。

2.根据权利要求1所述一种大范围高精度的面形检测装置,其特征在于:所述变频激光器的可调谐范围大于30nm。

3.一种利用如权利要求1所述的大范围高精度的面形检测装置的检测方法,其特征在于:包括以下步骤,选择两个中心波长,分别对被测物体进行单波长变频移相干涉检测,然后利用双波长移干涉算法得到被测面的面形信息。

4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于:所述双波长移干涉算法包括以下步骤:

分别以                                               和为中心波长进行变频相移干涉测量,相移步进波长分别为和, 则第步相移所得的莫尔条纹信息的低频部分为:

 (1)

    

由上式可知,最终的相移量为:

                           (2)

其中,为等效波长,

采用四步相移平均法提取相位信息,即取,然后通过位相解包,波面拟合求解被测面的面形信息。

5.根据权利要求3或4所述的检测方法,其特征在于:选择两个中心波长时,中心波长取整数,波长间隔为20nm-30nm。

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