[发明专利]一种大范围高精度的面形检测装置及其检测方法无效
| 申请号: | 201310044110.3 | 申请日: | 2013-02-01 |
| 公开(公告)号: | CN103134445A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
| 发明(设计)人: | 田爱玲;刘剑;王红军;刘丙才;朱学亮;王春慧 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
| 地址: | 710032*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 范围 高精度 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种大范围高精度的面形检测装置,包括激光光源(1)、扩束镜(2)、准直镜(3)、分光镜(4)、标准参考镜(5)、CCD相机(8)、图像采集系统(9)和计算机(10),所述激光光源(1)、扩束镜(2)、准直镜(3)和分光镜(4)共光路设置,标准参考镜(5)设置于分光镜(4)的反射光路中,所述CCD相机(8)与图像采集系统(9)连接,图像采集系统(9)和激光光源(1)均与计算机(10)连接,其特征在于:所述激光光源(1)为可连续变频的变频激光器。
2.根据权利要求1所述一种大范围高精度的面形检测装置,其特征在于:所述变频激光器的可调谐范围大于30nm。
3.一种利用如权利要求1所述的大范围高精度的面形检测装置的检测方法,其特征在于:包括以下步骤,选择两个中心波长,分别对被测物体进行单波长变频移相干涉检测,然后利用双波长移干涉算法得到被测面的面形信息。
4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于:所述双波长移干涉算法包括以下步骤:
分别以 和为中心波长进行变频相移干涉测量,相移步进波长分别为和, 则第步相移所得的莫尔条纹信息的低频部分为:
(1)
由上式可知,最终的相移量为:
(2)
其中,为等效波长,
采用四步相移平均法提取相位信息,即取,然后通过位相解包,波面拟合求解被测面的面形信息。
5.根据权利要求3或4所述的检测方法,其特征在于:选择两个中心波长时,中心波长取整数,波长间隔为20nm-30nm。
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