[发明专利]一种可变带隙的Fe-B-Si三元半导体非晶薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310016110.2 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103046000A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 李晓娜;郑月红;董闯 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/35
代理公司: 大连星海专利事务所 21208 代理人: 花向阳
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 可变 fe si 三元 半导体 薄膜 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种可变带隙的Fe-B-Si三元半导体非晶薄膜及其制备方法,属半导体材料技术领域。

背景技术

β-FeSi2是继Si、GaAs之后的第三代半导体材料,具有许多优异性能: 0.83~0.87eV的直接带隙,理论光电转换效率可达到16~23%,高温稳定性好,与 Si 的晶格匹配性很好,抗潮湿,抗化学腐蚀、抗氧化性好;具有很高的热电转换系数。这些性能使β-FeSi2薄膜可以用于制造Si基大规模集成电路光敏组件、太阳能电池、图像传感器、发光二极管和温差发电器等器件。目前在二元β-FeSi2基础上,研究者们探索掺杂第三元素来拓展其使用性能,研究表明B可以替代β-FeSi2结构中部分的Fe元素,且B的添加有利于该体系非晶合金的形成。另外在晶体β-FeSi2的添加B时,能够明显提高材料的光致发光强度。

但是,当前制备β-FeSi2存在的如下问题: 

(1)β-FeSi2是一种线性化合物,在制备体材料或薄膜材料时都极易生成Fe和Si的其它中间化合物(如ε-FeSi和α-FeSi2),出现多相混杂的状况。其晶体中还极易出现层错、孪晶等缺陷,因此很难得到高质量纯的β-FeSi2材料。

(2)β-FeSi2在用于光电领域时,多数以单晶Si为基制备薄膜,但存在较大的膜基失配问题,导致其很多性能未能达到理论预期。

(3)目前使用不同方法制备的二元β-FeSi2材料,其带隙宽度在0.87eV左右变化,虽略有不同,但不能进行调制。加入第三组元后的晶态三元FeSi2型材料则很容易出现相分离的现象,带隙宽度虽然能较大范围调制,但是增加了结构的不稳定性,使得多相混杂的状况进一步恶化。 

发明内容

本发明针对上述不足,在二元β-FeSi2研究的基础上,用B元素替代β-FeSi2结构中部分的Fe元素,通过制备非晶态Fe-B-Si三元薄膜的方式,有效回避晶态薄膜中晶格失配及多相混杂等问题,而且非晶态能够保证成分均匀,进而保证性能稳定。同时,当三元系统中Si的含量变化时,薄膜的带隙宽度可以在一定范围内调整。本发明旨在制备一种可变带隙的Fe-B-Si三元半导体非晶薄膜,从而提高材料的使用性能,扩展材料的适用范围。

本发明采用的技术方案是:一种可变带隙的Fe-B-Si三元半导体非晶薄膜具有如下通式:Fe3B1Six,x为4.8~18;随着x从4.8增加到18,该非晶薄膜材料的带隙宽度从0.66eV减小到0.60eV,薄膜结构始终为非晶态。

所述的三元非晶半导体的Fe-B-Si系薄膜的制备方法采用下列步骤:

(一)制备合金溅射靶材,其步骤如下:

①备料:按照Fe与B原子百分比3:1称取各组元量值,待用金属原料的纯度:Fe 为99.99%,B 为99.5%以上; 

②Fe3B1合金锭的熔炼:将金属的混合料放在熔炼炉的水冷铜坩埚内,采用真空电弧熔炼的方法在氩气的保护下进行熔炼,首先抽真空至10-2Pa,然后充入氩气至气压为0.03±0.01MPa,熔炼电流密度的控制范围为150±10A/cm2,熔化后,再持续熔炼10秒钟,断电,让合金随铜坩埚冷却至室温,然后将其翻转,重新置于水冷铜坩埚内,进行第二次熔炼;前述过程反复熔炼至少3次,得到成分均匀的Fe3B1合金锭;

③Fe3B1合金棒的制备:将Fe3B1合金锭置于连有负压吸铸装备的水冷铜坩埚内,在氩气保护下用上述真空电弧熔炼法熔炼合金,首先抽真空至10-2Pa,然后充入氩气至气压为0.03±0.01MPa,熔炼所用电流密度为150±10A/cm2,熔化后,再持续熔炼10秒钟,断电,同时开启负压吸铸装置,让合金熔体充入圆柱形铜模型腔中,冷却至室温,得到要求规格的Fe3B1合金棒;

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