[发明专利]一种用于检测汽化时间的系统无效
申请号: | 201310011866.8 | 申请日: | 2013-01-11 |
公开(公告)号: | CN103076333A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 王超;钟声远;李长桢;眭晓林;王文涛;张天华;颜子恒 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 吴永亮 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 汽化 时间 系统 | ||
技术领域
本发明涉及光电技术领域,尤其涉及一种用于检测汽化时间的系统。
背景技术
现有技术一般采用温度测量法或摄像法测量样品加热后的汽化现象。温度测量法是通过接触的方式测得待测样品的温度的方法,即通过热敏元件接受被测样品的热量,从而得到被测样品的温度,根据测得的温度计算待测样品的汽化时间。但是该方法是通过热传导来实现测温,而热传导需要在热敏元件与与待测样品达到热平衡后才准确,但是现实中热敏元件所感知的温度滞后于被测样品,不可避免的存在测得的温度滞后的问题,使测得的汽化时间不准确。
摄像法是一种直接测量的方法,通过对测试样品进行摄像,直接观察汽化现象,确定汽化时间。该方法是通过对待测样品进行直接观察,但是在汽化的初期,产生的汽化现象很微弱,当明显观察到汽化现象时,被测样品早已达到了汽化温度,使测得的汽化时间不准确。
可见不管是通过温度测量法还是摄像法,测得的测试样品的汽化时间都是不准确的,所以现有的计算测试样品的汽化时间的准确性有待进一步提高。
发明内容
鉴于上述的分析,本发明旨在提供一种用于检测汽化时间的系统,用以解决进一步提高测试样品的汽化时间的准确性。
本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的:
一种用于检测汽化时间的系统,包括激光器、第一光电探测器、第二光电探测器、信号处理装置、分光镜和角反射器,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器均与所述信号处理装置连接,所述分光镜和所述角反射镜之间设置有待测样品;
所述激光器,用于持续向所述分光镜发出激光光束;
所述分光镜,用于将所述激光器发出的激光光束分成两部分,一部分反射到所述第一光电探测器,另一部分经过所述待测样品的上方区域透射到所述角反射器,并经所述角反射器反射到所述分光镜,然后再经所述分光镜反射到所述第二光电探测器;
所述角反射器,用于将所述分光镜透射过来的激光光束反射给所述分光镜;
所述第一光电探测器,用于将接收到的激光光束转变为电信号,并将转换后的电信号发送给所述信号处理装置;
所述第二光电探测器,用于将接收到的激光光束转变为电信号,并将转换后的电信号发送给所述信号处理装置;
所述信号处理装置,用于根据所述第一光电探测器和所述第二光电探测器发送来的电信号的电压确定所述待测样品发生汽化的时间。
优选地,所述分光镜和所述待测样品之间设置有滤光片;
所述滤光片,用于将所述分光镜发来的激光光束中的杂光进行滤除,滤除杂光后的激光光束经过所述待测样品的上方区域透射到所述角反射器。
优选地,所述分光镜和所述第一光电探测器之间设有衰减片;
所述衰减片,用于对所述分光镜反射来的激光光束进行衰减,衰减后的激光光束进入所述第一光电探测器。
优选地,还包括激光加热装置;
所述激光加热装置,用于发出强激光光束,通过该强激光光束对所述待测样品进行加热。
优选地,所述信号处理装置具体用于,接收所述第一光电探测器和所述第二光电探测器发送来的电信号,当所述第一光电探测器和所述第二光电探测器的电信号的电压出现差值时,则确定所述待测样品发生汽化,该电压差出现的时刻即为所述待测样品发生汽化的时间。
优选地,所述信号处理装置具体包括差分放大器和比较器;
所述差分放大器,用于将所述第一光电探测器和所述第二光电探测器发送来的电信号分别进行放大处理,并将放大后的电信号发送给所述比较器;
所述比较器,用于比较所述差分放大器发送来的所述电信号,当所述第一光电探测器和所述第二光电探测器对应的电信号出现电压差时,则该时刻所述待测样品发生汽化。
本发明有益效果如下:
本发明实施例提供的一种用于检测汽化时间的系统,通过将激光器发出的光束分成两路,一路直接通过反射镜反射给第一光电探测器,另一路经过待测样品的上方区域后再通过角反射器和上述分光镜反射给第二光电探测器,第一光电探测器和第二光电探测器将接收到的激光光束转变为电信号,并将转换后的电信号发送给所述信号处理装置,最后信号处理装置根据所述第一光电探测器和所述第二光电探测器发送来的电信号的电压确定待测样品的汽化的时间。该系统结构简单,操作方便,能够准确的测量待测样品的汽化的时间,为激光领域中涉及激光参数以及受光材料的选择提供依据。
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