[发明专利]干涉仪型光纤干扰检测装置及其检测方法有效
申请号: | 201280065977.0 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN104040598A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 金孝相;郑浩镇;龙载哲 | 申请(专利权)人: | 法柏有限公司 |
主分类号: | G08B13/186 | 分类号: | G08B13/186 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 金龙河;穆德骏 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 干涉 仪型 光纤 干扰 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,包括:
检测光纤,用于检测外部干扰;
光信号发生部,用于输出脉冲形态的光信号;
光干涉部,向上述检测光纤输出将从上述光信号发生部输出的光信号分割并沿着不同长度的光程行进后结合而成的检测光信号,并输出将从上述检测光纤返回的检测光信号分割并沿着不同长度的光程行进后结合而成的干涉检测信号;
光接收部,将从上述光干涉部输出的上述干涉检测光信号转换为电信号并输出;以及
信号处理部,分析从上述光接收部输出的电信号,掌握向上述检测光纤施加的外部干扰的位置及种类。
2.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述检测光纤是强化了瑞利后向散射的光纤。
3.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述检测光纤包括由FC/{C连接器相连接的多个光纤线缆。
4.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述检测光纤包括利用光纤光栅的反射点。
5.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述检测光纤为保偏光纤。
6.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述光信号发生部包括无偏光光源。
7.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述光信号发生部包括选自激光二极管、超辐射发光二极管、利用掺铒光纤的放大自发辐射光源及发光二极管中的一种光源。
8.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述光信号发生部的光源为短波长光源。
9.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述光干涉部包括:
第一光耦合器,将从上述光信号发生部输入的光信号分割并沿着不同长度的光程输出,将从上述不同长度的光程输入的光信号结合并向上述光接收部输出;以及
第二光耦合器,将从上述不同长度的光程输入的光信号结合并向上述检测光纤输出,将从上述检测光纤输入的光信号分割并沿着上述不同长度的光程输出。
10.根据权利要求9所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述第一光耦合器为一侧的两端口与上述光信号发生部及上述光接收部相连接且另一侧的两端口与上述不同长度的光程相连接的2×2光耦合器。
11.根据权利要求9所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述第一光耦合器为一侧的中间端口与上述光信号发生部相连接、上述一侧的上下端端口与第一光接收部及第二光接收部相连接且另一侧的上下端端口与上述不同长度的光程相连接的3×3光耦合器。
12.根据权利要求10或11所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述第二光耦合器为一侧的两端口与上述不同长度的光程相连接且另一侧的一端口与上述检测光纤相连接的2×2光耦合器。
13.根据权利要求13所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述不同长度的光程的程差比上述光信号的脉冲长度长。
14.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,还包括消偏器,该消偏器设在上述光干涉部的一路程或上述光信号发生部与上述光干涉部之间。
15.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,在上述光干涉部的一路程还包括相位调制器。
16.根据权利要求1所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述信号处理部在将上述检测光纤的距离划分为多个区间之后,按光信号的脉冲次序对从各区间后向散射并由上述光接收部接收的信号值进行采样,并存储于存储器。
17.根据权利要求16所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述信号处理部通过按上述检测光纤的距离按每个脉冲依次读取存储于上述存储器的信号值,掌握在特定地点的外部干涉引起的后向散射信号的大小变化,来判断是否向被划分为上述多个区间的地点施加了干扰。
18.根据权利要求16所述的干涉仪型光纤干扰检测装置,其特征在于,上述信号处理部按脉冲列比较存储于存储器的信号值,来掌握外部干扰的频率特性。
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