[发明专利]放射线检测器

说明书

技术领域

本发明涉及放射线检测器。

背景技术

放射线检测器例如应用于PET(Positron Emission Tomography：正电子发射断层扫描技术)、SPECT(Single photon emission computed tomography：单光子发射计算机断层成像术)、伽玛照相机等的核医学成像装置。这些核医学成像装置是如下的装置，即，利用若对被检测体投入正电子放射线同位素(RI)标志的药剂则释放湮没伽马射线的性质，使用放射线检测器对湮没伽马射线进行检测，从而获得被检测体内的RI(Radioactive Isotopes：放射性同位素)分布图像的装置。

就用于上述用途的放射线检测器而言，为了实现空间分辨率的进一步提高，期望存在对放射线检测器在深度方向(长度方向)上的发光位置进行检测的技术。

在专利文献1中公开了以下的放射线入射位置三维检测器。该放射线入射位置三维检测器具有多个柱状闪烁体和连接于多个柱状闪烁体的每一个的底面的受光元件。多个柱状闪烁体沿上下方向堆积具有规定的形状的多个闪烁体单元块而成。多个柱状闪烁体配置为彼此的侧面相邻，在相邻的侧面内的一部分设置有反射片，并且为了使彼此的光往来，至少在最上层的闪烁体单元块的侧面的一部分不设置反射片。此外，上述放射线入射位置三维检测器利用光电倍增管来作为受光元件。而且，受光元件仅设置于沿上下方向堆积了多个闪烁体单元块的结构体的一面。

在专利文献2中公开了以下的放射线位置检测器。该放射线位置检测器将闪烁体元件三维排列而构成大致长方体状的块。而且，在上述大致长方体的2面以上例如在整个面上连接受光元件。即，上述技术以使闪烁体元件发出的光三维地扩散为前提。

在专利文献3中公开了以下的放射线检测器。上述放射线检测器具有：闪烁晶体、光检测器以及光减少部。闪烁晶体形成为细长形状，放射线从一端入射。光检测器配置于闪烁晶体的另一端，检测荧光的强度。光减少部位于闪烁晶体的外侧面的局部，减少在内部传播的荧光的强度。该放射线检测器利用光电倍增管来作为光检测器。而且，光检测器仅设置于闪烁晶体的一端。

在专利文献4中公开了以下的放射线三维位置检测装置。该放射线三维位置检测装置具有闪烁单元与受光元件。闪烁单元能够通过如下方式获得，即将多个闪烁体单元块层叠成层状，将折射率与上述闪烁体单元块不同的较薄的透明板插入各闪烁体单元块之间而形成多层闪烁体，将两个多层闪烁体并排配置，在这两个多层闪烁体之间插入一部分不包含反射材料的较薄的透明板，并对这些部件进行结合。受光元件与多层闪烁体的一端部连接。

在专利文献5中公开了将板状或者柱状闪烁体与光检测器结合的放射线位置检测器。该放射线位置检测器将闪烁体层叠成多层，在多层之间以光学方式结合，从而检测向入射闪烁体的放射线入射位置与闪烁体中的发光点的深度位置。

在专利文献6中公开了一种放射线三维位置检测器，该放射线三维位置检测器以多个闪烁体元件的中心位置偏向与光位置检测器的受光面平行的方向的方式在光位置检测器上层叠该多个闪烁体元件，并使来自光位置检测器的输出光的空间分布的重心位置在所层叠的每个闪烁体元件中都不同，由此，基于重心位置运算，确定放射线入射并发出荧光的闪烁体元件。此外，该技术的本质在于层叠荧光衰减时间常数不同的第一闪烁体阵列以及第二闪烁体阵列。

在专利文献7中公开了以下的三维放射线位置检测器。该三维放射线位置检测器具备闪烁单元、受光元件以及运算部。闪烁单元设置在受光元件的光入射面上，沿着与该光入射面垂直的方向按顺序层叠有四个闪烁体阵列。各闪烁体阵列二维地排列有8×8个的闪烁体单元块。而且，某层的闪烁体阵列所包含的闪烁体单元块与其他层的闪烁体阵列所包含的闪烁体单元块的至少一个相同侧面的光学条件彼此不同。

另外，相关的技术被非专利文献1公开。其中，在非专利文献1中记载到在现有技术中的位置分辨性能为1mm左右。

专利文献1：日本特开平11-142523号公报

专利文献2：日本特开2011-149883号公报

专利文献3：日本特开2009-31132号公报

专利文献4：日本特开昭63-47686号公报

专利文献5：日本特公平5-75990号公报

专利文献6：日本特开2003-21682号公报

专利文献7：日本特开2004-279057号公报