[发明专利]确定流体绝缘电气设备的操作参数的方法和装置

权利要求书

1.导出流体绝缘电气设备(1)、特别是气体绝缘中压或高压开关设备(1)的至少一个操作参数P的方法，所述流体绝缘电气设备(1)包含绝缘流体(10)，所述绝缘流体(10)具有组分浓度为c_X、c_Y和c_Z的至少三种组分X、Y和Z，且

导出的操作参数P取决于所述电气设备(1)的绝缘流体(10)的介电击穿强度E_bd，

所述方法包括以下方法要素：

- 借助于至少一个传感器(30)测定多个测量变量(ρ、p、T、λ、η、c_S)，

- 将所述至少三种组分X、Y且Z分配到具有组浓度c_A的至少第一组分组A和具有组浓度c_B的至少第二组分组B，其中至少所述第一组分组A包含所述组分X、Y和Z中的至少两种或其中至少所述第二组分组B包含所述组分X、Y和Z中的至少两种，

- 通过使用所述测量变量(ρ、p、T、λ、η、c_S)确定所述绝缘流体(10)的指示所述第一组分组A的组浓度c_A和所述第二组分组B的组浓度c_B的至少一个量，和

- 使用指示所述组浓度c_A和所述组浓度c_B的所述至少一个量导出所述操作参数P。

2.权利要求1的方法，其中将所述至少三种组分X、Y和Z以使得在所述第一组分组A中的所述一种或多种组分的分子量的加权平均值M_A与在所述第二组分组B中的所述一种或多种组分的分子量的加权平均值M_B不同的方式分配到所述至少两个组分组A和B。

3.权利要求2的方法，其中在所述第一组分组A和所述第二组分组B之间所述组分X、Y和Z的分子量的加权平均值之差M_A-M_B的绝对值|M_A-M_B|大于在所述第一组分组A和所述第二组分组B内所述组分X、Y和Z的分子量的加权统计展布σ_M,A和σ_M,B。

4.权利要求3的方法，其中在所述第一组分组A和所述第二组分组B之间所述组分X、Y和Z的分子量的加权平均值之差M_A-M_B的绝对值|M_A-M_B|大于20g/mol，优选大于50g/mol且更优选大于100g/mol。

5.前述权利要求中任一项的方法，其中将所述至少三种组分X、Y和Z以使得在所述第一组分组A中的所述一种或多种组分的临界场强的加权平均值E_crit,A与在所述第二组分组B中的所述一种或多种组分的临界场强的加权平均值E_crit,B不同的方式分配到所述至少两个组分组A和B。

6.权利要求5的方法，其中在所述第一组分组A和所述第二组分组B之间所述组分X、Y和Z的临界场强的加权平均值之差E_crit,A-E_crit,B的绝对值|E_crit,A-E_crit,B|大于在所述第一组分组A和所述第二组分组B内所述组分X、Y和Z的临界场强的加权统计展布σ_Ecrit,A和σ_Ecrit,B。