[发明专利]用双能X射线计算机断面显像技术估算岩样的有效原子序数和体积密度的方法有效
申请号: | 201280037280.2 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN103718016B | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | N.德治 | 申请(专利权)人: | 因格瑞恩股份有限公司 |
主分类号: | G01N9/24 | 分类号: | G01N9/24;G01N23/087 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 吴俊 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用双能 射线 计算机 断面 显像 技术 估算 有效 原子序数 体积 密度 方法 | ||
1.一种估算至少一种目标物体的体积密度和/或有效原子序数的方法,包括:
i.对两种或更多参考物体和三种或更多标定物体进行扫描,
ii.使用从参考物体和标定物体获得的扫描值获得体积密度误差和有效原子序数之间的函数关系,
iii.对所述目标物体和所述三种或更多标定物体进行扫描,
iv.获得所述目标物体的未修正密度和有效原子序数,
v.利用从参考物体获得的体积密度误差和有效原子序数之间的函数关系获得所述目标物体的体积密度修正值和有效原子序数,和
vi.利用体积密度修正值获得修正后的体积密度。
2.如权利要求1所述的方法,其中,目标物体是孔隙体。
3.如权利要求1所述的方法,其中,目标物体是岩样。
4.如权利要求1所述的方法,其中,目标物体是钻井岩心。
5.一种估算目标物体的体积密度的方法,包括从具有已知体积密度和/或有效原子序数的一组物体确定体积密度误差函数,然后使用体积密度误差函数调整具有未知体积密度和原子序数的物体的体积密度的未修正估算值。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述目标物体是固体。
7.如权利要求1所述的方法,其中,目标物体是液体或含有液体。
8.如权利要求1所述的方法,其中,所述目标物体是从钻井位置、推荐的钻井位置、地下位置、或地上位置获得的。
9.如权利要求1所述的方法,其中,所述扫描是CT扫描。
10.如权利要求1所述的方法,其中,所述扫描是双能X射线CT扫描。
11.如权利要求1所述的方法,其中,所述两种或更多参考物体是岩样、钻井岩心样品、部分钻井岩心样品、或具有已知体积密度的其它物体。
12.如权利要求1所述的方法,其中,所述三种或更多标定物体具有彼此不同的有效原子序数和/或体积密度。
13.如权利要求1所述的方法,其中,所述三种或更多标定物体中的至少一种标定物体含有液体。
14.如权利要求1所述的方法,其中,所述三种或更多标定物体中的至少一种标定物体包括固体。
15.如权利要求1所述的方法,其中,所述三种或更多标定物体中的至少一种标定物体是矿物材料、聚合物材料或水溶液。
16.如权利要求1所述的方法,其中,所述标定物体是石英、特氟隆和水。
17.如权利要求1所述的方法,其中,所述扫描是使用扫描器完成的,其中,所述扫描器能够移动,以扫描目标物体、参考物体和标定物体。
18.如权利要求1所述的方法,其中,所述扫描是使用扫描器完成的,其中,目标物体、参考物体和标定物体在固定式扫描仪中通过。
19.如权利要求1所述的方法,其中,所述参考物体和/或目标物体位于托盘上。
20.如权利要求1所述的方法,其中,所述标定物体与参考物体和/或目标物体相邻。
21.如权利要求1所述的方法,其中,所述标定物体与目标物体和/或至少一种参考物体接触。
22.如权利要求1所述的方法,其中,所述标定物体与参考物体和/或目标物体相邻,但是不与参考物体或目标物体接触。
23.如权利要求21所述的方法,其中,所述标定物体附着到所述托盘上,或通过其它方式被所述托盘固定就位。
24.如权利要求1所述的方法,其中,所述标定物体在所述参考物体或所述目标物体周围等距分布。
25.如权利要求1所述的方法,其中,所述参考物体和所述目标物体在同一次扫描中被扫描。
26.如权利要求1所述的方法,其中,所述参考物体和所述目标物体被顺次扫描。
27.如权利要求1所述的方法,其中,所述一种或多种参考物体和所述目标物体被单独扫描。
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