[发明专利]用于确定摄影机的成像偏差的装置和方法

权利要求书

1.一种用于确定摄影机（10）的成像偏差的装置，所述装置具有：

所述摄影机（10），所述摄影机在第一距离（A1）上聚焦；

测试结构单元（5），所述测试结构单元以距所述摄影机（10）的第二距离（A2）设置在所述摄影机（10）的视域（30）中并且所述测试结构单元具有三维表面结构（6），所述三维表面结构具有校准标记（K1-Kn）；

透镜单元（15），所述透镜单元以距所述摄像机（10）的第三距离（A3）设置在所述测试结构单元（5）和所述摄影机（10）之间并且如此构造，使得所述三维表面结构（6）可由所述摄影机（10）成像；和

控制单元（25），所述控制单元与所述摄影机连接并且如此构造，使得通过分析处理所述三维表面结构（6）的校准标记（K1-Kn）的所拍摄的图像能够确定所述摄影机（10）的成像偏差。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，能够确定所述摄影机（10）的景深的偏差和/或焦点位置的偏差。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，能够确定所述摄影机（10）的俯仰偏差和/或偏转偏差和/或摆动偏差。

4.根据以上权利要求中任一项所述的装置，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，能够确定成像误差和/或球面像差和/或像散现象和/或像面弯曲。

5.根据以上权利要求中任一项所述的装置，其中，所述装置包括光源，所述光源如此构造，使得所述校准标记（K1-Kn）能够反射地、半透射地或透射地照明。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述光源在波长方面是可调节的。

7.根据以上权利要求中任一项所述的装置，其中，通过具有不同波长的光能够拍摄所述校准标记（K1-Kn）的图像并且根据波长能够确定所述摄影机（10）的成像偏差。

8.根据以上权利要求中任一项所述的装置，其中，所述透镜单元（15）设计为具有可变焦距的光学元件并且所述焦距能够通过所述控制单元（25）控制。

9.根据以上权利要求中任一项所述的装置，其中，所述校准标记（K1-Kn）构造为具有不同条纹宽度的条纹图案和/或具有不同方向的正方形和/或文字数字符号。

10.一种用于确定摄影机（10）的成像偏差的方法，所述方法具有以下步骤：

使摄影机（10）在第一距离（A1）上聚焦（S1）；

以距所述摄影机（10）的第二距离（A2）设置（S2）具有三维表面结构（6）的测试结构单元（5），所述三维表面结构具有校准标记（K1-Kn）；

使用（S3）以距所述摄影机（10）的第三距离（A3）设置的透镜单元（15）来通过所述摄影机（10）成像所述三维表面结构（6）；

通过所述摄像机（10）拍摄（S4）所述三维表面结构（6）的校准标记（K1-Kn）的图像；

通过控制单元（25）通过分析处理所拍摄的图像来确定（S5）所述摄影机的成像偏差。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，确定所述摄影机（10）的景深的偏差和/或焦点位置的偏差。

12.根据权利要求10或11中任一项所述的方法，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，确定所述摄影机（10）的俯仰偏差和/或偏转偏差和/或摆动偏差。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，其中，作为所述摄影机（10）的成像偏差，确定成像误差和/或球面像差和/或像散现象和/或像面弯曲。

14.根据权利要求13至16中任一项所述的方法，其中，通过具有不同波长的光拍摄所述校准标记（K1-Kn）的图像以及根据波长确定所述摄影机（10）的成像偏差。