[发明专利]光学器件

权利要求书

1. 一种光学器件，包括：

多个光源，每个光源可操作以提供光束；

至少一个光束组合器，所述光束组合器可操作以将来自所述多个光源的光束组合以提供组合光束；

光束分光器，所述光束分光器布置成接收所述组合光束并且将所述组合光束分成主光束和辅助光束，其中所述辅助光束的一个或多个特性表征所述主光束的一个或多个特性，其中所述光束分光器包括第一表面和第二表面，所述主光束穿过所述第一表面从所述光束分光器发出，所述辅助光束穿过所述第二表面从所述光束分光器发出；

反射镜部件，所述反射镜部件包括反射镜，其中所述反射镜部件布置成使得所述反射镜能够反射穿过所述光束分光器的所述第一表面发出的所述主光束，并且其中所述反射镜能够围绕至少一个振荡轴振荡以扫描所述主光束；

其中，所述光学器件还包括光电二极管，所述光电二极管构造成接收所述辅助光束并且检测所述辅助光束的一个或多个特性，其中所述光电二极管构造成从与所述光束分光器的所述第一表面或所述第二表面中的至少一个平行偏离，以减少被引导至所述反射镜的杂散光的量。

2. 根据权利要求1所述的光学器件，其中，所述光电二极管还构造成从与所述光束分光器的所述第一表面和所述第二表面两者平行偏离。

3. 根据权利要求1或2所述的光学器件，还包括控制器，所述控制器可与所述光电二极管可操作地连通以接收与表征所述主光束的一个或多个特性的所述辅助光束的一个或多个特性有关的数据，并且控制多个激光器中的每一个以使得所述主光束的一个或多个特性保持在一个或多个预定特性。

4. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，还包括检测装置，所述检测装置用于检测所述辅助光束入射在所述光电二极管上的位置。

5. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，其中，所述光束分光器布置成直接与所述反射镜光学连通。

6. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，还包括具有窗口的外壳，由所述反射镜反射的所述主光束能够穿过所述窗口，其中所述光学器件还包括反射表面，所述反射表面布置成接收来自所述光束分光器的所述主光束并且将所述主光束反射至所述反射镜，其中所述反射表面构造成与所述窗口形成一体。

7. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，其中，所述光束组合器、所述光束分光器和所述反射镜布置成使得由所述反射镜反射的所述主光束穿过所述组合光束，以减少在由所述反射镜反射的所述主光束中的斑点。

8. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，还包括窗口，由所述反射镜反射的所述主光束能够穿过所述窗口，其中所述窗口构造成调节穿过所述窗口的所述主光束的光学特性。

9. 根据权利要求8所述的光学器件，其中，所述窗口构造成减少斑点效应。

10. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，还包括外壳，其中所述反射镜部件限定所述外壳的表面的至少一部分。

11. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，还包括第二光束分光器，其中所述第二光束分光器布置成使所述组合光束的一部分偏转。

12. 根据前述权利要求中任一项所述的光学器件，其中，所述光学器件包括单个导电构件，所述单个导电构件构造成电连接所述光源、所述投影装置和所述反射镜部件中的每一个。

13. 一种包括根据前述权利要求中任一项所述的光学器件的投影装置。

14. 一种投射图像的方法，所述方法包括如下步骤：

操作多个光源以使得每个光源提供光束；

将所述光束组合以提供组合光束；

使用光束分光器将所述组合光束分成主光束和辅助光束，其中所述辅助光束的特性表征所述主光束的特性，其中所述光束分光器包括第一表面和第二表面，所述主光束穿过所述第一表面从所述光束分光器发出，所述辅助光束穿过所述第二表面被发出；

在光电二极管处接收所述辅助光束，所述光电二极管构造成从与所述光束分光器的所述第一表面或所述第二表面中的至少一个平行偏离；

使用所述光电二极管检测所述辅助光束的一个或多个特性；

处理所述辅助光束的被检测的一个或多个特性以确定所述主光束的特性；

扫描所述主光束以将图像投射在显示屏上。

15. 根据权利要求14所述的方法，还包括如下步骤：调节所述多个光源中的一个或多个光源，以使得所述主光束的一个或多个特性匹配一个或多个预定特性。